低濃度ガス成分分析方法及びその装置

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：小橋川洋二
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996069316
Publication number (International publication number)：1997236589
Application date： Feb. 29, 1996
Publication date： Sep. 09, 1997
Summary：

【要約】【課題】コンパクトで、保守の容易なガス分析方法およびその装置を提供する。【解決手段】測定装置は、拡散スクラバー1と、拡散スクラバー1に吸収液としての純水を供給する一時液貯め2と、一時液貯め2からオーバーフローした純水をたくわえるタンク3と、タンク3の純水を再生させる純水装置4と、拡散スクラバー1を通った純水の成分分析を行うイオンクロマトグラフ5とを備えている。純水装置4は、陽極6と陰極7との間に、陽イオン交換膜8、陰イオン交換膜9を配置したもので、陰極7と陽イオン交換膜8との間および陰イオン交換膜9と陽極6との間には、イオンクロマトグラフ5からの希硝酸が導入される。陽イオン交換膜8と電極6,7による電気浸透力により、純水中のNH4+イオンと希硝酸中のH+イオンとをイオン交換することにより、純水を再生し、一時液貯め2へ送る。

Claim (excerpt)：

吸収液を拡散スクラバーに通して、測定ガス中の低濃度成分を前記吸収液に吸収させ、前記吸収した低濃度成分をイオンクロマトグラフ等の分析装置によって分析する低濃度ガス成分分析方法において、前記拡散スクラバーに供給する吸収液をイオン交換膜を用いて再生することを特徴とする低濃度ガス成分分析方法。

IPC (6)：

G01N 30/02 , G01N 1/22 , G01N 30/00 , G01N 30/26 , G01N 30/96 , G01N 31/00

FI (6)：

G01N 30/02 B , G01N 1/22 L , G01N 30/00 G , G01N 30/26 H , G01N 30/96 B , G01N 31/00 G

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (6)

ガス分析装置用切換装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-024644 Applicant：横河アナリティカルシステムズ株式会社
気体中の酸性・塩基性ガスの自動測定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平7-038038 Applicant：田中茂, 電気化学計器株式会社, 横河アナリティカルシステムズ株式会社
気体分析装置およびその分析方法および気体採取装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平7-024871 Applicant：日本電気株式会社

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