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J-GLOBAL ID:200903011790276083

光投影画像システム、および核を有する細胞および疾病に関与する細胞質密度の特徴を自動的に検出する方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (8): 岡部 正夫 ,  加藤 伸晃 ,  産形 和央 ,  臼井 伸一 ,  越智 隆夫 ,  本宮 照久 ,  朝日 伸光 ,  三山 勝巳
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2003561404
Publication number (International publication number):2005539209
Application date: Jan. 21, 2003
Publication date: Dec. 22, 2005
Summary:
多次元、高定量的な核および細胞質の密度の特徴(NDFおよびCDF)を用いて、対象とする細胞を高速に検出するためのシステムおよび方法は、細胞からの正確な密度情報を含んだ種々の光学投影画像(または射影)を生成することのできるフロー・オプティカル断層撮影(FOT)装置、投影画像を分析かつ多次元のデータ・セットに再構成するためのコンピュータおよびソフトウェア、自動化された特徴の収集および物体分類器を備える。本発明のシステムおよび方法は、唾液から採取した気管検体または頬の剥離物を用いて肺癌などの癌を、および子宮頚部の剥離物を用いて子宮頚癌/卵巣癌を早期検出する際に特に有用であり、本発明のシステムを用いて血液を含む検体内で稀な細胞を検出することができる。
Claim (excerpt):
細胞標本内の対象となる細胞(1)を検出する方法であって、 (a)細胞標本を採取し、該細胞(1)を溶液(17)で懸濁する工程と、 (b)必要に応じて、前記細胞標本の前記細胞(1)を溶液中で固定する工程と、 (c)前記標本の各細胞(1)内で光学密度を発生させるために、前記細胞をマーキングする工程と、 (d)少なくとも1つの点光源(21)を用いて、前記細胞(1)に照明を当てる工程と、 (e)デジタル・アレイ検出器(23)を用いて、前記標本を介して少なくとも1つの投影画像を取得する工程と、 (f)背景の照明の変動に対して、前記少なくとも1つの投影画像を補正する工程と、 (g)前記少なくとも1つの投影画像を分析して、少なくとも1つの対象となる物体を検出する工程と、 (h)少なくとも1つの対象となる物体に関する一次元(1D)の特徴値および二次元の特徴値(2D)を有する、特徴値(94)のセットを算出する工程と、 (i)前記特徴値(94)のセットを少なくとも1つの分類器(90)に提供する工程と、 (j)前記細胞標本から前記少なくとも1つの対象となる物体を識別するために、前記特徴値(94)のセットおよび前記少なくとも1つの分類器(90)を用いる工程とから成る細胞標本内の対象となる細胞(1)を検出する方法。
IPC (5):
G01N33/48 ,  C12Q1/04 ,  G01N21/17 ,  G01N21/64 ,  G01N33/50
FI (6):
G01N33/48 M ,  G01N33/48 P ,  C12Q1/04 ,  G01N21/17 620 ,  G01N21/64 F ,  G01N33/50 P
F-Term (45):
2G043AA03 ,  2G043BA16 ,  2G043DA02 ,  2G043DA05 ,  2G043EA01 ,  2G043FA01 ,  2G043GA07 ,  2G043GB19 ,  2G043HA05 ,  2G043KA02 ,  2G043KA05 ,  2G043KA09 ,  2G043LA03 ,  2G043NA01 ,  2G043NA05 ,  2G043NA13 ,  2G045CB02 ,  2G045DA13 ,  2G045DA14 ,  2G045FA11 ,  2G059AA05 ,  2G059AA06 ,  2G059BB12 ,  2G059BB14 ,  2G059CC16 ,  2G059EE06 ,  2G059EE07 ,  2G059EE12 ,  2G059FF01 ,  2G059FF02 ,  2G059GG01 ,  2G059GG02 ,  2G059GG10 ,  2G059JJ17 ,  2G059KK04 ,  2G059MM03 ,  2G059MM14 ,  4B063QA01 ,  4B063QA18 ,  4B063QQ08 ,  4B063QR66 ,  4B063QR77 ,  4B063QS11 ,  4B063QS36 ,  4B063QX02
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (13)
  • 米国特許出願番号第09/927,151号
  • 出願番号60/279244
  • 米国特許第6,026,174号
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Cited by examiner (6)
  • 粒子分析装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平3-270106   Applicant:東亜医用電子株式会社
  • 特開昭63-168562
  • 特開昭63-168562
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