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J-GLOBAL ID:200903012611502030
結晶基板およびその製造方法
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
京本 直樹 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1999178668
Publication number (International publication number):2001010898
Application date: Jun. 24, 1999
Publication date: Jan. 16, 2001
Summary:
【要約】 (修正有)【課題】裏面が粗研磨のサファイアC面基板上に結晶成長により形成されたGaN層は、表面モフォロジーが悪いという問題があった。【解決手段】本発明の結晶基板は、裏面が鏡面に研磨されたサファイア基板上にエピタキシャル成長により半導体層を形成したことを特徴とする。半導体層は、一般式InxAlyGA1-x-yN(0≦x≦1,0≦y≦1)で表される。またその上に第2の半導体層を形成する場合もある。
Claim (excerpt):
裏面が鏡面に研磨されたサファイア基板上に、エピタキシャル成長により半導体層が形成されたことを特徴とする結晶基板。
IPC (2):
FI (2):
F-Term (17):
4G077BB01
, 4G077FG11
, 4G077FJ06
, 4G077HA02
, 4G077HA12
, 5F045AA04
, 5F045AB14
, 5F045AB18
, 5F045AC08
, 5F045AC12
, 5F045AD09
, 5F045AD14
, 5F045AE25
, 5F045AF09
, 5F045AF11
, 5F045CA10
, 5F045HA12
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (6)
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化合物半導体エピタキシャルウエハ
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-282524
Applicant:昭和電工株式会社
-
気相成長用基板及びその加熱方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-225159
Applicant:株式会社東芝
-
p形III族窒化物半導体層及びその形成方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-155313
Applicant:昭和電工株式会社
-
半導体デバイスの分離方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-018868
Applicant:株式会社東芝
-
GaN系結晶成長用基板およびその用途
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-195890
Applicant:三菱電線工業株式会社
-
3-5族化合物半導体とその製造方法および半導体素子
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-266898
Applicant:住友化学工業株式会社
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