Pat

J-GLOBAL ID：200903012800464122

粉末品分析用試料の精秤分取装置

Inventor： 千野 貴史 ,  野上 雄司 ,  矢城 一 ,  加藤 敬介 ,  北村 肇 ,  竹内 勝 ,  吉越 英夫 ,  北井 幹雄
Applicant, Patent owner： 日機装株式会社 ,  信越化学工業株式会社
Agent (1)： 小宮 良雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992346274
Publication number (International publication number)：1994194276
Application date： Dec. 25, 1992
Publication date： Jul. 15, 1994
Summary：

【要約】【目的】 検査工程中で人手をかけることなく分析項目に応じた適量な樹脂粉末試料を精密に秤量、分取する装置を提供する。【構成】 粉末品分析用試料の精秤分取装置は、制御回路に連結した電子式排出秤量計4の上に、制御回路に連結した振動駆動源5に接続するホッパー6が載置されており、ホッパー6の下部開口に連続する排出経路7は静止状態で粉末試料が流れることなく振動駆動源5からの振動により流れる程度に傾斜している。電子式排出秤量計4の秤量値による制御回路からの制御信号で振動駆動源5が動作して、ホッパー6から排出する粉末試料の量を、制御回路に予め設定してある粉末試料の必要量に調整することができる。

Claim (excerpt)：

制御回路に連結した電子式排出秤量計の上に、該制御回路に連結した振動駆動源に接続するホッパーが載置されており、該ホッパーの下部開口に連続する排出経路は静止状態で粉末試料が流れることなく該振動駆動源からの振動により流れる程度に傾斜しており、該電子式排出秤量計の秤量値による該制御回路からの制御信号で該振動駆動源が動作して、該ホッパーから排出する粉末試料の量を、該制御回路に予め設定してある粉末試料の必要量に調整することを特徴とする粉末品分析用試料の精秤分取装置。

IPC (3)：

G01N 1/00 101 ,  G01G 13/00 ,  G01N 1/04

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開平4-127030
  
• 特開平1-275319
  
• 特開平2-194327