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J-GLOBAL ID：200903013232910160

疵検査装置及び疵検査方法

Inventor：
梅村 純

About 梅村 純

, 
今野 雄介

About 今野 雄介


Applicant, Patent owner：
新日本製鐵株式会社

About 新日本製鐵株式会社


Agent (1)： 國分 孝悦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003009871
Publication number (International publication number)：2004219382
Application date： Jan. 17, 2003
Publication date： Aug. 05, 2004
Summary：
【課題】鋼板表面の疵の発生箇所や大きさに拘わらず、鋼板の全長にわたって高精度な疵検査を高速で行うことができるようにする。【解決手段】鋼板1を撮像して得られた画像信号を解析するとともに、疵検査を行う疵検査処理部4において、疵検査処理を全体的に統括する統括装置5と、第1の判定装置7(1)〜第10の判定装置7(10)とを設け、上記統括装置5により上記画像信号の全体を上記検査対象物の幅方向に沿って複数の疵検査領域に分割して、上記分割領域ごとに上記第1の判定装置7(1)〜第10の判定装置7(10)でそれぞれ並列的に疵検査を行うようにして、高速な疵検査を行うことができるようにする。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
疵検査対象物を撮像して得られた画像信号を解析して疵検査を行う疵検査装置であって、 上記画像信号の全体を上記疵検査対象物の幅方向に沿って複数の疵検査領域に分割するとともに、上記複数に分割した画像信号のそれぞれを複数の疵検査処理手段に分散させて並列的に疵検査処理して上記疵検査対象物の疵検査を行うようにしたことを特徴とする疵検査装置。
IPC (2)：
G01N21/892 ,  B21C51/00
FI (2)：
G01N21/892 B ,  B21C51/00 P
F-Term (9)：
2G051AA37 ,  2G051AB02 ,  2G051CA04 ,  2G051DA06 ,  2G051EA12 ,  2G051EA16 ,  2G051EB01 ,  2G051ED01 ,  2G051ED02
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (6)
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Cited by examiner (6)
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