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J-GLOBAL ID：200903013718840996

回折・散乱光の光強度分布データの比較方法、および粒度分布測定装置

Inventor：
木下 健

About 木下 健


Applicant, Patent owner：
株式会社島津製作所

About 株式会社島津製作所


Agent (1)： 鹿島 義雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2006296571
Publication number (International publication number)：2008111810
Application date： Oct. 31, 2006
Publication date： May. 15, 2008
Summary：
【課題】 差の小さな回折・散乱光の強度分布データを比較する場合に、差を表す指標の数値に出来るだけ大きい差が生じるようにし、差異を数値的に明確にする比較方法を提供する。 【解決手段】 分散粒子群にレーザ光を照射する過程と、分散粒子群からの回折・散乱光を複数の光検出素子で検出して各検出光量データを成分とする光強度分布データを得る過程と、異なる二つの分散粒子群について各々得られた光強度分布データを比較する過程とを含む方法において、比較過程は、各光強度分布データを、各々の検出光量データを成分とするベクトルとして扱い、これら二つの光強度分布データのなす交角に関連した交角指標を重みマトリックスを作用させることで強調して算出する過程と、前記算出過程で求めた交角指標に基づいて前記二つの光強度分布データの差異の程度を判定する過程とを含むようにする。【選択図】図8
Claim (excerpt)：
分散粒子群にレーザ光を照射する過程と、前記分散粒子群からの回折・散乱光を複数の光検出素子で検出して各検出光量データを成分とする光強度分布データを得る過程と、異なる二つの分散粒子群について各々得られた光強度分布データを比較する過程とを含む方法において、前記比較過程は、前記各光強度分布データを、各々の検出光量データを成分とするベクトルとして扱い、これら二つの光強度分布データのなす交角に関連した交角指標を重みマトリックスを作用させることにより強調して算出する過程と、前記算出過程で求めた交角指標に基づいて前記二つの光強度分布データの差異の程度を判定する過程とを含むことを特徴とする回折・散乱光の光強度分布データの比較方法。
IPC (1)：
G01N 15/02
FI (1)：
G01N15/02 A
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (2)
  • 粒度分布測定方法
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-118158   Applicant：株式会社島津製作所
  • 特許第3633169号公報
Cited by examiner (7)
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Article cited by the Patent：
Cited by examiner (1)

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