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J-GLOBAL ID:200903014952555347

磁気情報記憶媒体用ガラスセラミック基板

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 坂本 徹 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1999219627
Publication number (International publication number):2000119042
Application date: Aug. 03, 1999
Publication date: Apr. 25, 2000
Summary:
【要約】【課題】 高記憶密度化に対応した表面平滑性を兼ね備えた情報磁気憶媒体用ガラスセラミック基板を提供する。【解決手段】 主結晶相は、二珪酸リチウム、クォーツ,クォーツ固溶体,クリストバライト,クリストバライト固溶体の中から選ばれる少なくとも1種以上であり、-50〜+70°Cにおける熱膨張係数が+62〜+130×10<SP>-7</SP>/°Cであり、ヤング率が80〜150GPaであり、ビッカース硬度が4.5〜15.0GPaであり、比重が2.2〜2.8であり、研磨加工後の表面粗さ(Ra)が3〜9Åであり、Al<SB>2</SB>O<SB>3</SB>含有量が2〜<10%であることを特徴とする、情報記憶媒体用ガラスセラミック基板。
Claim (excerpt):
主結晶相は、二珪酸リチウム(Li<SB>2</SB>O・2SiO<SB>2</SB>,X線回折法における最大ピーク強度の面間隔d=3.57〜3.62Å)、クォーツ(SiO<SB>2</SB>,X線回折法における最大ピーク強度の面間隔d=3.33〜3.41Å),クォーツ固溶体(SiO<SB>2</SB>固溶体,X線回折法における最大ピーク強度の面間隔d=3.33〜3.41Å),クリストバライト(SiO<SB>2</SB>,X線回折法における最大ピーク強度の面間隔d=4.04〜4.14Å),クリストバライト固溶体(SiO<SB>2</SB>固溶体,X線回折法における最大ピーク強度の面間隔d=4.04〜4.14Å)の中から選ばれる少なくとも1種以上であり、-50〜+70°Cにおける熱膨張係数が+62〜+130×10<SP>-7</SP>/°Cであり、ヤング率が80〜150GPaであり、ビッカース硬度が4.5〜15.0GPaであり、比重が2.2〜2.8であり、研磨加工後の表面粗さ(Ra)が3〜9Åであり、Al<SB>2</SB>O<SB>3</SB>含有量が2〜<10%であることを特徴とする、磁気情報記憶媒体用ガラスセラミック基板。
IPC (3):
C03C 10/12 ,  C03C 10/06 ,  G11B 5/73
FI (3):
C03C 10/12 ,  C03C 10/06 ,  G11B 5/73
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (8)
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