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J-GLOBAL ID：200903015056548648

画素型エネルギ識別検出器の電荷共有を低減する方法及び装置

Inventor：
ジョン・エリック・ツカチク

About ジョン・エリック・ツカチク

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ヤンフェン・デュ

About ヤンフェン・デュ

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ウェン・リ

About ウェン・リ


Applicant, Patent owner：
ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ

About ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ


Agent (4)： 松本 研一 ,  小倉 博 ,  黒川 俊久 ,  荒川 聡志
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2008009962
Publication number (International publication number)：2008180713
Application date： Jan. 21, 2008
Publication date： Aug. 07, 2008
Summary：
【課題】直接変換検出器のピクセルの間の電荷共有を低減した計算機式断層写真法(CT)装置及び方法を設計する。【解決手段】CT検出器が、複数の金属化アノード(102)を含んでおり、各々の金属化アノード(102)は間隙(125)によって他の金属化アノード(102)から離隔されている。直接変換物質(101)が、複数の金属化アノード(102)に電気的に結合されており、直接変換物質(101)に入射するX線によって発生される電荷が複数の金属化アノード(102)の少なくとも2個の間で共有されるような電荷共有領域(124)を有している。X線減弱物質(110)が、電荷共有領域(124)に向かうX線を減弱するように配置されている。【選択図】 図5
Claim (excerpt)：
複数の金属化アノード(102)であって、各々の金属化アノード(102)が間隙(125)により他の金属化アノード(102)から離隔されている、複数の金属化アノード(102)と、 該複数の金属化アノード(102)に電気的に結合されている直接変換物質(101)であって、当該直接変換物質(101)に入射するX線により発生される電荷が前記複数の金属化アノード(102)の少なくとも2個の間で共有されるような電荷共有領域(124)を有する直接変換物質(101)と、 前記電荷共有領域(124)に向かうX線を減弱するように配置されているX線減弱物質(110)と を備えた計算機式断層写真法(CT)検出器。
IPC (4)：
G01T 1/24 ,  A61B 6/03 ,  H01L 31/09 ,  G01N 23/04
FI (4)：
G01T1/24 ,  A61B6/03 320R ,  H01L31/00 A ,  G01N23/04
F-Term (36)：
2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001DA01 ,  2G001DA02 ,  2G001DA03 ,  2G001DA09 ,  2G001GA06 ,  2G001GA08 ,  2G001HA13 ,  2G001HA14 ,  2G001KA06 ,  2G001LA10 ,  2G001PA11 ,  2G088EE02 ,  2G088EE29 ,  2G088FF02 ,  2G088GG21 ,  2G088JJ05 ,  2G088JJ30 ,  4C093AA22 ,  4C093CA02 ,  4C093CA31 ,  4C093EA11 ,  4C093EB13 ,  4C093EB17 ,  4C093EB20 ,  4C093EB22 ,  4C093EB30 ,  5F088AB09 ,  5F088BA20 ,  5F088BB03 ,  5F088BB07 ,  5F088DA17 ,  5F088HA20 ,  5F088LA08
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (6)
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