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J-GLOBAL ID：200903015424585621

光ピックアップ装置

Inventor：
佐伯 哲夫

About 佐伯 哲夫


Applicant, Patent owner：
シャープ株式会社

About シャープ株式会社


Agent (1)： 山本 秀策
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000065786
Publication number (International publication number)：2001256662
Application date： Mar. 09, 2000
Publication date： Sep. 21, 2001
Summary：
【要約】【課題】 周囲温度が変化した場合に、半導体レーザの波長変動や構成部品の膨張収縮によってフォーカス誤差信号のオフセットが生じるのを防ぐ。【解決手段】 半導体レーザ1の波長変動によるフォーカスオフセット量と、ステム7や光学部品2の膨張収縮によるフォーカスオフセット量が互いに相殺して両者の和が許容範囲内になるように、各構成部品の材料を選択する。または、光検出器6において、分割線の両側の受光部に入射する光量の変化が許容範囲内になるように、分割線を傾斜させる。
Claim (excerpt)：
光源と、該光源と同一のパッケージ内に配置され、光源から出射されて光磁気記録媒体に反射された光を検出する光検出器と、該光磁気記録媒体からの反射光の一部を分離して該光検出器の方向に導くビームスプリッターと、該光磁気記録媒体のトラック方向に対して略垂直な方向の分割線によって少なくとも第1の領域と第2の領域とに分割され、各領域に入射してきた該光磁気記録媒体からの反射光を分割して所定の方向に導く光分割手段とを備えた光ピックアップ装置において、該光検出器は、該光磁気記録媒体のトラック方向に略垂直な方向の分割線によって第1の受光部と第2の受光部とに分割され、かつ、該光分割部材の第1の領域から導かれてきた光を受光する受光手段を有し、該第1の受光部および該第2の受光部は、該光源と同一のステム上に配置されていると共に、該光源の発光点と該光分割手段を透過した光が該光検出器上で集光する点とを結んだ方向である第1の方向と、該第1の受光部と該第2の受光部との分割線の方向である第2の方向とが略垂直に配置され、周囲の温度変化に対する該光源の波長変動によって該受光手段上の集光点が該第1の方向に移動する移動量と、周囲の温度変化に対する構成部品の膨張収縮によって該受光手段上の集光点が該第1の方向に移動する移動量との和が許容範囲内になるように、構成部品の材料が選択されている光ピックアップ装置。
IPC (3)：
G11B 7/13 ,  G11B 7/09 ,  G11B 7/135
FI (3)：
G11B 7/13 ,  G11B 7/09 B ,  G11B 7/135 Z
F-Term (25)：
5D118AA13 ,  5D118AA20 ,  5D118BA01 ,  5D118CD02 ,  5D118CD03 ,  5D118CD08 ,  5D118CF02 ,  5D118CF03 ,  5D118CF17 ,  5D118DA20 ,  5D118DB02 ,  5D118DB08 ,  5D118DB12 ,  5D118DB16 ,  5D118DB18 ,  5D118DC03 ,  5D119AA29 ,  5D119BA01 ,  5D119CA09 ,  5D119EA02 ,  5D119EA03 ,  5D119FA05 ,  5D119KA02 ,  5D119KA27 ,  5D119LB07
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (7)
  • 光学ピックアップ
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-018963   Applicant：ソニー株式会社
  • 特開平2-113450
  • 光ピックアップ
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-128015   Applicant：松下電器産業株式会社
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