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J-GLOBAL ID：200903020101752590

自動分析装置

Inventor：
田村 知明

About 田村 知明


Applicant, Patent owner：
オリンパス光学工業株式会社

About オリンパス光学工業株式会社


Agent (1)： 杉村 暁秀 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999266647
Publication number (International publication number)：2001091521
Application date： Sep. 21, 1999
Publication date： Apr. 06, 2001
Summary：
【要約】【課題】 BF分離洗浄ポート間に配置する磁石の配置位置を工夫し、粒子の分散手段を新たに用意することなく、かつ再分散再集磁させたときと同等の洗浄効率を提供する。【解決手段】 BF分離洗浄ポートを複数ポート用意し、そのポートに対応して磁性粒子を集合させるための磁石53-1,53-2を配置し、かつ該磁石は集合した該磁性粒子(Mm)を、ポートとポートとの間で移動させるように配置する。たとえば、最初のポートでのBF分離洗浄から次ポートでのBF分離洗浄に移る際に、粒子塊が形状を変化させながら移動し((c-1)〜(c-4))、該過程で、粒子塊中に取込まれてしまった被洗浄物質を表に取り出すことができる。BF洗浄時に磁性粒子を集合させるための磁石の配置位置を工夫し、洗浄効率を落とすことなく、洗浄時間および装置構成の短縮・簡略化を達成する。
Claim (excerpt)：
磁性粒子を固相体に用い、BF分離洗浄手段を有する自動分析装置において、磁石を複数配置し、該磁石は集合した該磁性粒子を、磁石と磁石との間で移動させるように配置してなることを特徴とする自動分析装置。
IPC (2)：
G01N 35/04 ,  G01N 33/543 531
FI (2)：
G01N 35/04 B ,  G01N 33/543 531
F-Term (12)：
2G058AA09 ,  2G058BA08 ,  2G058CB08 ,  2G058CB15 ,  2G058CD11 ,  2G058CE08 ,  2G058ED03 ,  2G058FA01 ,  2G058FB03 ,  2G058FB12 ,  2G058GA02 ,  2G058HA00
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (6)
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