ダブルゲート集積回路及びその製造方法

Inventor： , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：坂口博 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000069146
Publication number (International publication number)：2000277745
Application date： Mar. 13, 2000
Publication date： Oct. 06, 2000
Summary：

【要約】【課題】酸化物の厚みを適宜に制御でき、上下のゲート位置を合わせることのできるダブルゲートMOSFET構造を形成する方法及び構造を提供する。【解決手段】単結晶シリコン・チャネル層5及び絶縁酸化物1、6と窒化物2、7の層を持つ積層構造を形成するステップ、積層構造に開口8を形成するステップ、開口にソースとドレインの領域9を形成するステップ、マスクで覆われていない積層構造の部分部分を除去するステップ、マスク及び絶縁酸化物と窒化物の層を除去してソースとドレインの領域から懸吊したチャネル層を残すステップ、酸化層11を形成してソースとドレインの領域とチャネル層を覆うステップ、酸化層上に、チャネル層の第1側に第1導体と、第2側に第2導体が含まれるようにダブルゲート導体12を形成するステップとを含む、ダブルゲートMOSFET製造方法。

Claim (excerpt)：

ダブルゲート集積回路を作製する方法であって、チャネル層及び該チャネル層の各面に第1絶縁体を持つ積層構造を形成するステップと、前記積層構造に開口を形成するステップと、前記開口にソースとドレインの領域を形成するステップと、前記ソースとドレインの領域をドープし、前記積層構造の前記開口により該ドーピングのアライメントをとるステップと、前記積層構造の部分部分を除去して、前記ソースとドレインの領域から懸吊した前記チャネル層を残すステップと、第2絶縁体を形成して、前記ソースとドレインの領域及び前記チャネル層を覆うステップと、前記チャネル層の第1側に第1導体が、前記チャネル層の第2側に第2導体が含まれるように前記第2絶縁体上にダブルゲート導体を形成するステップと、を含む、方法。

IPC (2)：

H01L 29/786 , H01L 21/336

FI (3)：

H01L 29/78 617 N , H01L 29/78 616 L , H01L 29/78 626 B

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

半導体装置の製造方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-030269 Applicant：富士通株式会社
特開平2-162740
半導体集積回路装置およびその製造方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-348274 Applicant：日本電気株式会社

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