光断層画像表示システム

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：岡本宜喜
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005207140
Publication number (International publication number)：2007024677
Application date： Jul. 15, 2005
Publication date： Feb. 01, 2007
Summary：

【課題】波長走査型光コヒーレントトモグラフィにおいて、高分解能で高感度で画像表示できる断層画像表示システムを提供すること。【解決手段】高速で利用できる再現性のよい波長走査型光源10と干渉光学計を用いる。kトリガ生成部24は時間に対し等発振周波数の関係をメモリに保持し、スキャントリガ信号に基づきkトリガ信号を発生する。このkトリガ信号に基づいて干渉光学計より得られる光ビート信号を等周波数間隔でフーリエ変換することにより、断層画像を得る。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

周期的に光の発振波長を走査する波長走査型光源と、前記波長走査型光源の波長走査毎にトリガ信号を発成するスキャントリガ発生部と、前記スキャントリガ発生部より得られるトリガ信号をトリガとして、1走査の期間内に前記波長走査型光源の光の等周波数間隔でのkトリガ信号を発生するkトリガ発生部と、前記波長走査型光源からの光を参照光と物体への照射光とに分岐し、物体からの反射光と参照光との干渉光を発生する干渉光学計と、前記干渉光学計より得られる干渉光を受光し、ビート信号を得る受光素子と、前記受光素子からの出力及び前記kトリガ発生部からのkトリガ信号にタイミングを合せて干渉信号に対してフーリエ変換することにより、前記物体の断層画像を算出する信号処理部と、を具備する光断層画像表示システム。

IPC (5)：

G01N 21/17 , G01B 9/02 , G01N 21/39 , G01N 21/45 , G01B 11/24

FI (5)：

G01N21/17 625 , G01B9/02 , G01N21/39 , G01N21/45 A , G01B11/24 D

F-Term (60)：

2F064AA09 , 2F064EE01 , 2F064EE04 , 2F064FF01 , 2F064GG02 , 2F064GG12 , 2F064GG24 , 2F064GG33 , 2F064GG41 , 2F064GG49 , 2F064GG51 , 2F064HH01 , 2F064JJ05 , 2F064JJ15 , 2F065AA52 , 2F065BB05 , 2F065CC16 , 2F065FF52 , 2F065GG04 , 2F065GG23 , 2F065JJ01 , 2F065JJ18 , 2F065LL00 , 2F065LL02 , 2F065LL04 , 2F065LL13 , 2F065LL15 , 2F065LL23 , 2F065LL33 , 2F065LL42 , 2F065LL62 , 2F065MM00 , 2F065MM16 , 2F065NN01 , 2F065QQ16 , 2G059AA05 , 2G059AA06 , 2G059BB12 , 2G059BB14 , 2G059CC16 , 2G059EE02 , 2G059EE09 , 2G059FF04 , 2G059FF08 , 2G059GG01 , 2G059GG09 , 2G059GG10 , 2G059HH01 , 2G059HH06 , 2G059JJ02 , 2G059JJ05 , 2G059JJ11 , 2G059JJ15 , 2G059JJ17 , 2G059JJ22 , 2G059JJ30 , 2G059KK01 , 2G059KK03 , 2G059MM01 , 2G059MM10

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

波長が連続的に変化する光を用いる波長特性測定装置及び方法
Gazette classification：再公表公報 Application number：JP2002004202 Applicant：アンリツ株式会社

Cited by examiner (7)

波長が連続的に変化する光を用いる波長特性測定装置及び方法
Gazette classification：再公表公報 Application number：JP2002004202 Applicant：アンリツ株式会社
周波数ドメイン干渉測定を利用して光学撮像を実行する方法および装置
Gazette classification：公表公報 Application number：特願2006-536622 Applicant：ザ・ジェネラル・ホスピタル・コーポレイション
光計測システム
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2000-274123 Applicant：科学技術振興事業団

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