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J-GLOBAL ID：200903021925641963

多層組織の光学的性質の測定のための方法および集成装置

Inventor：
ヤーコプ、ジェイ、スタムネス

About ヤーコプ、ジェイ、スタムネス

, 
クヌート、スタムネス

About クヌート、スタムネス


Applicant, Patent owner：
フォーリノーバ、アクティーゼルスカブ

About フォーリノーバ、アクティーゼルスカブ


Agent (5)： 吉武 賢次 ,  中村 行孝 ,  紺野 昭男 ,  横田 修孝 ,  高村 雅晴
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2002568978
Publication number (International publication number)：2004528542
Application date： Mar. 06, 2002
Publication date： Sep. 16, 2004
Summary：
本発明は、多層組織の光学的性質の測定のための方法および集成装置に関する。更に詳しくは、本発明は組織中における腫瘍の検出および特性付けのための方法に関する。
Claim (excerpt)：
多層組織の光学的性質の測定方法であって、 (a)いくつかの方向(θ0,φ0)から連続的に平行電磁ビームで多層組織を照射し、および (b)各照射方向について、多数の異なる波長(λ)で多層組織を照射し、および (c)各照射方向および波長について、多数の視野方向(θ,φ)で反射または散乱光を検出し、および (d)光学的性質がインバージョンアルゴリズムにより調べられる合成データベースを作るために、いくつかの視角で反射拡散光について解明する連結空気/組織系の厳密な放射伝達モデルを用いる ステップからなる方法。
IPC (2)：
G01N21/17 ,  A61B10/00
FI (2)：
G01N21/17 625 ,  A61B10/00 E
F-Term (14)：
2G059AA06 ,  2G059BB12 ,  2G059CC16 ,  2G059EE02 ,  2G059EE05 ,  2G059EE11 ,  2G059FF01 ,  2G059FF06 ,  2G059GG01 ,  2G059HH02 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ11 ,  2G059KK04 ,  2G059MM01
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (5)
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Cited by examiner (5)
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