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J-GLOBAL ID：200903022066632988

物理量検出装置

Inventor：
板倉 敏和

About 板倉 敏和


Applicant, Patent owner：
株式会社デンソー

About 株式会社デンソー


Agent (1)： 足立 勉
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003072175
Publication number (International publication number)：2004279261
Application date： Mar. 17, 2003
Publication date： Oct. 07, 2004
Summary：
【課題】複数の物理量を精度良く検出可能な物理量検出装置を提供する。【解決手段】X軸方向の加速度に応じて容量が変化するセンサエレメント部10xと、Y軸方向の加速度に応じて容量が変化するセンサエレメント部10yとが、1つの半導体基板上に形成されたセンサ1を備えると共に、センサエレメント部10x,10yの各々について、そのセンサエレメント部10x,10yの容量変化を電圧に変換するC-V変換回路2x,2yと、C-V変換回路2x,2yの出力電圧Vsx,Vsyを一定時間毎にサンプルホールドして信号処理を行う信号処理回路3x,3yとを備えた加速度検出装置では、各信号処理回路3x,3y同士のサンプリングタイミングがずらして設定されている。このため、各信号処理回路3x,3yがサンプリング動作した際の他系統への影響をなくすことができる。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
検出対象の物理量に応じて出力電圧が変化する検出手段と、該検出手段の出力電圧を一定時間毎にサンプリングしてホールドする信号処理回路とを、複数組備えた物理量検出装置において、 前記各信号処理回路のサンプリングタイミングがずれて設定されていること、 を特徴とする物理量検出装置。
IPC (4)：
G01P15/125 ,  G01D3/028 ,  G01L9/00 ,  G08C13/00
FI (4)：
G01P15/125 V ,  G01L9/00 305S ,  G08C13/00 ,  G01D3/04 F
F-Term (22)：
2F055AA40 ,  2F055BB20 ,  2F055CC60 ,  2F055DD20 ,  2F055EE25 ,  2F055FF11 ,  2F055GG44 ,  2F073AA21 ,  2F073AB02 ,  2F073AB07 ,  2F073AB14 ,  2F073BB04 ,  2F073BC01 ,  2F073CC01 ,  2F073DE16 ,  2F073EF09 ,  2F073GG02 ,  2F073GG07 ,  2F075AA01 ,  2F075EE08 ,  2F075EE09 ,  2F075EE18
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (4)
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