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J-GLOBAL ID:200903022373388563
X線測定装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (3):
岩橋 文雄
, 坂口 智康
, 内藤 浩樹
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003134098
Publication number (International publication number):2004340583
Application date: May. 13, 2003
Publication date: Dec. 02, 2004
Summary:
【課題】近年、電子部品の小型化高密度実装技術の進展に従い、可視光線だけでは検査出来ない被検査物が多くなり、X線による検査を併用する測定検査システムの開発がなされており、被検体の光学画像とX線透過画像を同一タイプのTVカメラで撮影し、合成し、一つの画面に表示しているが、構造が複雑となり安定性が得られず、また、高価であるという課題を有していた。【解決手段】上記課題を解決するために本発明のX線測定装置は、X線を照射するX線源と、前記X線の照射方向に対してX線透過部を有し、それ以外の方向に対してX線遮蔽部を有する絞り手段と、前記絞り手段のX線透過部にX線の照射方向に対して角度を付けて所望の波長の光を反射するX線を通過するミラーを一体に設けたものである。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
X線を照射するX線源と、前記X線の照射方向に対してX線透過部を有し、それ以外の方向に対してX線遮蔽部を有する絞り手段と、前記絞り手段のX線透過部にX線の照射方向に対して角度を付けて所望の波長の光を反射するX線を通過するミラーを一体に設けたX線測定装置。
IPC (2):
FI (2):
F-Term (18):
2G001AA01
, 2G001BA11
, 2G001BA15
, 2G001BA30
, 2G001CA01
, 2G001DA01
, 2G001DA02
, 2G001DA06
, 2G001DA09
, 2G001EA09
, 2G001HA09
, 2G001HA12
, 2G001HA13
, 2G001HA20
, 2G001JA03
, 2G001JA04
, 2G001LA11
, 2G001SA01
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (6)
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X線撮影装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-011869
Applicant:株式会社東芝
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X線基板検査装置とX線用可視光反射膜
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-099377
Applicant:松下電器産業株式会社
-
ディジタル化X線画像生成装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-112894
Applicant:ゼロックスコーポレイション
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特開昭61-172544
-
試料解析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-119235
Applicant:株式会社島津製作所
-
特許第2539496号
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