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J-GLOBAL ID：200903022800957736

土壌の光学特性測定装置

Inventor：
平子 進一

About 平子 進一


Applicant, Patent owner：
オムロン株式会社

About オムロン株式会社


Agent (1)： 中野 雅房
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997254331
Publication number (International publication number)：1999083627
Application date： Sep. 02, 1997
Publication date： Mar. 26, 1999
Summary：
【要約】【課題】 土壌の形状や土壌面の凹凸等に影響されず、土壌の光学的特性を精度よく測定するできるようにする。土壌面との距離を大きくして、測定精度を向上させる。【解決手段】 光源22から出射された白色光を土壌面3に照射する。土壌面3で散乱反射された白色光を集光レンズ23で集光して光積分球24内部に集光させる。このとき土壌面3の像を光積分球24の受光窓30に結像させて縮小投影するようにしてある。光積分球24内の光は分光装置25に導かれて分光され、分光された光は光検出器26により受光される。データ処理装置25は光検出器26の受光信号に基づいて光スペクトルを求め、反射散乱光の光スペクトルに基づいて土壌成分を判別する。
Claim (excerpt)：
土壌面に向けて、波長帯域の広い測定光を照射する光源と、土壌面で散乱反射された測定光を捕捉して閉じ込める光捕捉部と、土壌面で散乱反射された測定光を集光して、前記光捕捉部内へ導く集光手段と、前記光捕捉部内の光を分光する手段と、前記分光手段によって分光された光を受光する光検出器と、前記光検出器の測定データに基づいて土壌の光学特性を分析する手段と、を備えた土壌の光学特性測定装置。
IPC (3)：
G01J 3/28 ,  A01G 7/00 602 ,  G01S 5/14
FI (3)：
G01J 3/28 ,  A01G 7/00 602 Z ,  G01S 5/14
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (4)
  • 色彩・光沢度測定装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-182983   Applicant：キヤノン株式会社
  • 受光装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-273663   Applicant：株式会社日本自動車部品総合研究所, 日本電装株式会社
  • 雑草識別方法及びその装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-174289   Applicant：生物系特定産業技術研究推進機構
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Cited by examiner (4)
  • 色彩・光沢度測定装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-182983   Applicant：キヤノン株式会社
  • 受光装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-273663   Applicant：株式会社日本自動車部品総合研究所, 日本電装株式会社
  • 雑草識別方法及びその装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-174289   Applicant：生物系特定産業技術研究推進機構
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