光計測装置

Inventor： , , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：塩野入章夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002004752
Publication number (International publication number)：2003207443
Application date： Jan. 11, 2002
Publication date： Jul. 25, 2003
Summary：

【要約】【課題】複数の送光点及び複数の受光点を持つ光計測装置において、送光部、受光部、あるいは送受光間等の送受光条件が異なる場合においても、最適な信号強度レベルを得る。【解決手段】被検体に光を照射し、被検体中を透過及び/又は反射した後に外部に放出される光を計測する光計測装置であって、被検体に1つ又は複数の波長の光を照射する複数の送光部と被検体から放出される光を受光する複数の受光部とを備えた送受光手段2と、各受光部で計測された計測信号を各々増幅する複数の増幅手段4、及び/又は各受光部に入射される光強度を各々減衰する複数の減衰手段8とを備える構成とし、計測中に増幅手段の各増幅率及び/又は減衰手段の各減衰率を変化させる。計測中に変化する送受光条件に応じて、増幅手段の各増幅率や減衰手段の各減衰率を変化させることによって、最適な信号強度レベルを得る。

Claim (excerpt)：

被検体に光を照射し、被検体中を透過及び/又は反射した後に外部に放出される光を計測する光計測装置において、被検体に1つ又は複数の波長の光を照射する複数の送光部と被検体から放出される光を受光する複数の受光部とを備えた送受光手段と、前記各受光部で計測された計測信号を各々増幅する複数の増幅手段、及び/又は前記各受光部に入射される光強度を各々減衰する複数の減衰手段とを備え、計測中に前記増幅手段の各増幅率及び/又は前記減衰手段の各減衰率を変化させることを特徴とする光計測装置。

IPC (3)：

G01N 21/17 610 , A61B 10/00 , G01N 21/27

FI (3)：

G01N 21/17 610 , A61B 10/00 E , G01N 21/27 Z

F-Term (13)：

2G059AA05 , 2G059BB12 , 2G059CC16 , 2G059EE01 , 2G059EE02 , 2G059EE11 , 2G059FF04 , 2G059GG03 , 2G059GG10 , 2G059JJ17 , 2G059KK03 , 2G059LL04 , 2G059NN01

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (6)

光計測装置及び記録媒体、並びに光計測方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平11-306957 Applicant：株式会社日立製作所, 株式会社日立メディコ
光計測方法及び装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平10-290878 Applicant：株式会社日立製作所, 株式会社日立メディコ
光CTにおける送受光装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平6-220955 Applicant：技術研究組合医療福祉機器研究所

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