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J-GLOBAL ID:200903023937224961

熱電半導体の塑性加工方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1999335567
Publication number (International publication number):2001156346
Application date: Nov. 26, 1999
Publication date: Jun. 08, 2001
Summary:
【要約】【課題】 熱電半導体の塑性加工方法において、酸化を抑制し、酸化による熱電半導体材料組成の変化に起因した性能劣化を防止すること。【解決手段】 酸素濃度が10000ppm以下の雰囲気酸素濃度環境下で熱電半導体を塑性加工する。酸素濃度が10000ppm以下であると、熱電半導体の酸化による性能劣化を顕著に抑制することができる。
Claim (excerpt):
酸素濃度が10000ppm以下の雰囲気酸素濃度環境下で熱電半導体を塑性加工することを特徴とする、熱電半導体の塑性加工方法。
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
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