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J-GLOBAL ID:200903024196742702

基板処理装置及び基板処理方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 大森 純一
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1999164052
Publication number (International publication number):2000082735
Application date: Jun. 10, 1999
Publication date: Mar. 21, 2000
Summary:
【要約】【課題】 異常に処理された基板を正確に取り出して検査等を行うことができ、更に通常の処理に先立ち先行処理された基板を正確に取り出して検査等を行うことができる基板処理装置及び基板処理方法の提供。【解決手段】 処理前及び処理後の複数の基板を収容する第1の載置部に加えてプロセス部で異常に処理された複数の基板または通常の処理に先立ち先行処理された複数の基板を収容する第2の載置部を設ける。そして、異常に処理された基板または先行処理された基板を第2の載置部で回収するように構成している。
Claim (excerpt):
処理前及び処理後の複数の基板を収容する第1の載置部と、前記基板を処理するプロセス部と、前記プロセス部で異常に処理された複数の前記基板を収容する第2の載置部と、前記第1の載置部と前記プロセス部と前記第2の載置部との間で前記基板を搬送する手段とを具備することを特徴とする基板処理装置。
IPC (2):
H01L 21/68 ,  H01L 21/027
FI (4):
H01L 21/68 A ,  H01L 21/30 562 ,  H01L 21/30 564 C ,  H01L 21/30 569 C
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (4)
  • 処理方法及び塗布現像処理システム
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平8-252316   Applicant:東京エレクトロン株式会社
  • 基板の処理方法
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平8-151601   Applicant:株式会社ニコン
  • 処理装置及びその使用方法
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平5-354476   Applicant:東京エレクトロン株式会社, 東京エレクトロン山梨株式会社
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