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J-GLOBAL ID:200903024990353680

熱量計設置雰囲気の制御方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 深井 敏和
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2001201916
Publication number (International publication number):2003014674
Application date: Jul. 03, 2001
Publication date: Jan. 15, 2003
Summary:
【要約】【課題】 室温以下の温度での熱量測定が可能で、かつ結露による電気系統の漏電トラブルや断熱材の断熱性能低下が生じない熱量計設置雰囲気の制御方法を提供することである。【解決手段】 加熱部4および断熱材保温部6等を恒温槽15の内部に格納し、恒温槽15内部の雰囲気温度を試料2の熱量測定温度以下に制御し、かつ断熱熱量計1内の少なくとも加熱部4および断熱材保温部6の表面温度を露点よりも高い温度に保つ。
Claim (excerpt):
熱量計内の少なくとも加熱部および断熱材保温部の表面温度を露点よりも高い温度に保つことを特徴とする熱量計設置雰囲気の制御方法。
IPC (3):
G01N 25/00 ,  G01N 25/20 ,  G05D 23/00
FI (3):
G01N 25/00 P ,  G01N 25/20 Z ,  G05D 23/00 H
F-Term (15):
2G040EB01 ,  2G040EB06 ,  2G040EC01 ,  2G040EC06 ,  2G040GA03 ,  5H323AA29 ,  5H323AA38 ,  5H323BB07 ,  5H323BB20 ,  5H323CA02 ,  5H323CB02 ,  5H323CB25 ,  5H323DA01 ,  5H323QQ05 ,  5H323RR06
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (10)
  • 示差走査熱量計の炉体ユニット
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平4-056957   Applicant:理学電機株式会社
  • 分析装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平8-259334   Applicant:株式会社島津製作所
  • 特開昭56-082436
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