試料の光学的深部分解による光学的把握のための方法および装置

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：松田省躬
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002099436
Publication number (International publication number)：2002323660
Application date： Apr. 01, 2002
Publication date： Nov. 08, 2002
Summary：

【要約】【課題】プレパラートをリアルタイムで、高い光学分解性を持って結像させることのできる新しい方法【解決手段】照明光が少なくとも一空間方向に変調を示し、走査動作および当走査動作に組み込まれた検出が、変調における少なくとも第1および第2の異なった位相位置において行われ、および/または変調における第1または第2の周期性周波数において行なわれ、試料/試料の1部から少なくとも1つの光学切断像が算定されるという、試料全体または少なくとも試料の1部に対して、試料上または試料中に分布した少なくとも1波長の照明光を走査動作させて行なう、試料の深部分解による光学的把握方法および特に試料との相互作用により影響を受けた光、特に蛍光および/または反射光および/またはルミネセンス光および/または散乱光および/または透過光の検出方法

Claim (excerpt)：

照明光が少なくとも一空間方向に変調を示し、走査動作および当走査動作に組み込まれた検出が、変調における少なくとも第1および第2の異なった位相位置において行われ、および/または変調における第1または第2の周期性周波数において行なわれ、試料/試料の1部から少なくとも1つの光学切断像が算定されるという、試料全体または少なくとも試料の1部に対して、試料上または試料中に分布した少なくとも1波長の照明光を走査動作させて行なう、試料の深部分解による光学的把握方法および特に試料との相互作用により影響を受けた光、特に蛍光および/または反射光および/またはルミネセンス光および/または散乱光および/または透過光の検出方法。

IPC (4)：

G02B 21/00 , G01N 21/64 , G02B 21/06 , G02B 21/16

FI (4)：

G02B 21/00 , G01N 21/64 E , G02B 21/06 , G02B 21/16

F-Term (24)：

2G043AA03 , 2G043BA16 , 2G043CA03 , 2G043EA01 , 2G043FA02 , 2G043FA06 , 2G043HA01 , 2G043HA02 , 2G043HA05 , 2G043HA09 , 2G043KA09 , 2G043LA02 , 2G043NA01 , 2H052AA07 , 2H052AA08 , 2H052AA09 , 2H052AC04 , 2H052AC10 , 2H052AC15 , 2H052AC16 , 2H052AC27 , 2H052AC34 , 2H052AF02 , 2H052AF25

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (8)

顕微鏡撮像装置および方法
Gazette classification：公表公報 Application number：特願平10-542491 Applicant：イシスイノヴェーションリミテッド
特表平6-505096
顕微鏡画像における深度選択の方法および装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2000-200394 Applicant：カールツァイスイエナゲゼルシャフトミットベシュレンクテルハフツング

Show all

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

Simple,robust and accurate phase-measuring triangulation

Return to Previous Page