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J-GLOBAL ID:200903026860256023

ZnO結晶の成長方法、ZnO結晶構造及びそれを用いた半導体装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 高橋 敬四郎 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2002370632
Publication number (International publication number):2003264201
Application date: Aug. 31, 1999
Publication date: Sep. 19, 2003
Summary:
【要約】【課題】 ZnO結晶、その成長方法及びそれを用いた半導体装置に関し、サファイヤ基板上に成長されるZnO結晶の結晶欠陥を低減し、良質なZnO結晶を成長する結晶成長方法を提供する。【解決手段】 基板上に、亜鉛(Zn)リッチもしくは酸素(O)リッチの条件にてZnO単結晶バッファー層を成長する工程と、前記ZnO単結晶バッファー層の表面平坦化処理を実施する工程と、前記表面平坦化処理を施したZnO単結晶バッファー層上に単結晶ZnO層を成長する工程とを含む。
Claim (excerpt):
基板上に、亜鉛(Zn)リッチもしくは酸素(O)リッチの条件にてZnO単結晶バッファー層を成長する工程と、前記ZnO単結晶バッファー層の表面平坦化処理を実施する工程と、前記表面平坦化処理を施したZnO単結晶バッファー層上に単結晶ZnO層を成長する工程とを含むZnO結晶の成長方法。
IPC (3):
H01L 21/363 ,  H01L 21/365 ,  H01L 33/00
FI (3):
H01L 21/363 ,  H01L 21/365 ,  H01L 33/00 D
F-Term (32):
5F041AA40 ,  5F041CA02 ,  5F041CA41 ,  5F041CA46 ,  5F041CA49 ,  5F041CA55 ,  5F041CA57 ,  5F041CA66 ,  5F045AA08 ,  5F045AA15 ,  5F045AB22 ,  5F045AC11 ,  5F045AD10 ,  5F045AE07 ,  5F045AF09 ,  5F045BB12 ,  5F045CA11 ,  5F045DA53 ,  5F103AA04 ,  5F103BB04 ,  5F103BB06 ,  5F103DD30 ,  5F103GG01 ,  5F103HH04 ,  5F103KK10 ,  5F103LL02 ,  5F103LL03 ,  5F103LL08 ,  5F103NN01 ,  5F103NN04 ,  5F103PP06 ,  5F103RR06
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (4)
  • 発光素子
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平11-045311   Applicant:株式会社村田製作所
  • 特開昭54-162688
  • 薄膜形成方法
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平7-217100   Applicant:ミノルタ株式会社
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Article cited by the Patent:
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