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J-GLOBAL ID：200903027827216071

反応性ガス検出装置及びホルムアルデヒドガス検出装置

Inventor：
田中 克之

About 田中 克之

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翁長 一夫

About 翁長 一夫

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坂本 真理

About 坂本 真理

, 
香田 弘史

About 香田 弘史


Applicant, Patent owner：
エフアイエス株式会社

About エフアイエス株式会社


Agent (2)： 西川 惠清 ,  森 厚夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004134208
Publication number (International publication number)：2005315739
Application date： Apr. 28, 2004
Publication date： Nov. 10, 2005
Summary：
【課題】反応性の高いガス成分を測定するにあたり、ガス濃度が低い場合であっても正確に濃度測定を行うことが可能であり、且つ簡便な構成で簡易な操作にて測定を行うことができ、特にホルムアルデヒド測定のような反応性が高く低濃度のガス成分の測定に好適に用いることができる反応性ガス検出装置を提供する。【解決手段】被測定ガス中の反応性ガスを濃縮する濃縮器2と、前記濃縮器2にて濃縮された反応性ガスを検出する検出器6を具備する。前記濃縮器2は被測定ガス中の反応性ガスを吸着すると共に加熱によりこの反応性ガスを反応をさせることなく脱離する吸着材とこの吸着材を加熱するヒータ13とを備える。前記検出器6は分離カラム18及び半導体ガスセンサ20を備える。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
被測定ガス中の反応性ガスを濃縮する濃縮器と、前記濃縮器にて濃縮された反応性ガスを検出する検出器を具備し、前記濃縮器は被測定ガス中の反応性ガスを吸着すると共に加熱によりこの反応性ガスを反応をさせることなく脱離する吸着材とこの吸着材を加熱するヒータとを備え、且つ、前記検出器は分離カラム及び半導体ガスセンサを備えるものであることを特徴とする反応性ガス検出装置。
IPC (7)：
G01N30/88 ,  G01N27/12 ,  G01N30/00 ,  G01N30/08 ,  G01N30/26 ,  G01N30/54 ,  G01N30/64
FI (9)：
G01N30/88 C ,  G01N27/12 C ,  G01N30/00 B ,  G01N30/08 G ,  G01N30/26 A ,  G01N30/26 E ,  G01N30/26 Q ,  G01N30/54 G ,  G01N30/64 A
F-Term (7)：
2G046AA25 ,  2G046BA02 ,  2G046BA09 ,  2G046BE02 ,  2G046BJ08 ,  2G046FB02 ,  2G046FE15
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (10)
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Cited by examiner (9)
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