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J-GLOBAL ID:200903028133772771
画像処理装置の不良画像表示方法及び画像処理装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
西川 惠清 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000256639
Publication number (International publication number):2002071574
Application date: Aug. 28, 2000
Publication date: Mar. 08, 2002
Summary:
【要約】【課題】複数の不良画像と各不良画像の良否判定条件の内容を同時に見えるようにして作業の効率化を図る。【解決手段】対象物の良否判定検査の終了後、入力装置9の上下キーの操作と確定キーの操作とでメニュー11で表示されている項目の内、「不良画像を表示」が選択されると、CPU6はRAM8に記憶されている全ての不良画像G1〜G3を表示装置10の画面に縦横に並べて表示する。この状態において入力装置9の上下キーの操作と確定キーの操作とで表示装置10の画面に表示されている何れかの不良画像が選択されると、CPU6はRAM8に設定されている判定条件内容についての選択された不良画像G3の数値を読み出し、表示装置10の画面で表示された当該不良画像の上に一部を重ねて表示したウィンドウ13内に表示する。
Claim (excerpt):
良否判定の対象物を撮像する撮像手段と、前記撮像手段の撮像により得られる画像データを記憶する記憶手段と、前記記憶手段に記憶された画像データを利用して、予め設定された種類の画像処理を行って前記対象物の良否判定を行い、少なくとも予め設定された条件に従って不良と判定した画像を前記記憶手段に記憶する画像処理手段と、前記画像処理の種類設定並びに良否判定の条件設定を含む種々の設定を行う設定手段と、前記記憶手段に記憶された対象物の画像や不良と判定した画像並びに前記設定手段による設定内容等を表示する表示手段とを備えた画像処理装置の不良画像表示方法であって、前記記憶手段に記憶された1乃至複数の不良と判定した画像を前記表示手段に表示するとともに、表示された前記画像に対して、前記設定手段により特定の画像を指定することで当該画像の良否判定条件の内容を前記画像と同一画面上に表示することを特徴とする画像処理装置の不良画像表示方法。
IPC (3):
G01N 21/88
, G06F 3/00 652
, G06T 1/00 305
FI (3):
G01N 21/88 J
, G06F 3/00 652 C
, G06T 1/00 305 A
F-Term (27):
2G051AC21
, 2G051CA04
, 2G051EA12
, 2G051EA14
, 2G051EB01
, 2G051ED23
, 2G051FA01
, 5B057AA01
, 5B057BA02
, 5B057CA12
, 5B057CA16
, 5B057DA03
, 5B057DA16
, 5B057DB02
, 5E501AC15
, 5E501BA03
, 5E501CA02
, 5E501CB02
, 5E501CB03
, 5E501CB05
, 5E501CB14
, 5E501DA11
, 5E501EB05
, 5E501FA05
, 5E501FA06
, 5E501FA14
, 5E501FA23
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (9)
-
外観検査方法および外観検査装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-253934
Applicant:株式会社日立製作所
-
画像処理装置、及び画像処理プログラムが記憶された記憶媒体
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-274305
Applicant:松崎真己
-
画像検査装置及び画像検査方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-307942
Applicant:新日本製鐵株式会社
-
試料表面の観察方法及びその装置並びに欠陥検査方法及びその装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-263149
Applicant:株式会社日立製作所
-
半導体装置の製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-125490
Applicant:株式会社日立製作所
-
画像処理装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-038252
Applicant:松下電器産業株式会社
-
特開平4-122845
-
構造物用検査装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-297493
Applicant:株式会社ニコン, リテックエンジニアリング株式会社
-
画像処理装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-084966
Applicant:松下電工株式会社
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