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J-GLOBAL ID：200903028149110680

分子間相互作用強度検定方法、及び装置

Inventor：
今村 剛士

About 今村 剛士

, 
尾島 徹則

About 尾島 徹則


Applicant, Patent owner：
キヤノン株式会社

About キヤノン株式会社


Agent (3)： 宮崎 昭夫 ,  石橋 政幸 ,  緒方 雅昭
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2006125424
Publication number (International publication number)：2007298342
Application date： Apr. 28, 2006
Publication date： Nov. 15, 2007
Summary：
【課題】温度の影響を受けず、かつ検出対象のみを測定する機構により、複数の温度域での測定が可能で、洗浄等の工程を省略できる、より簡便で高精度に分子間相互作用を測定する方法および装置を提供すること。【解決手段】検出目的分子と親和性を有する検定用分子が固定された複数の金属含有構造体と、この金属含有構造体が固定された基体とを有する検出素子を用意し、複数の温度域において、この検出素子と検体を接触させて反応せしめたのち、光を照射して検出する方法。さらに局在プラズモン共鳴を検出する素子を設置して用いる装置であって、反応容器と光源と受光機構と温度調整機構と光を信号に変換する変換機構と演算および検定する機構とを有する装置。【選択図】なし
Claim (excerpt)：
検体中の目的分子と、該目的分子と親和性を有する検定用分子との分子間相互作用強度を検定する方法であって、 (工程1)任意の基体と、該基体の表面に互いに離隔した状態で固定された複数の金属含有構造体とを有し、前記金属含有構造体に前記検定用分子が固定された検出素子を用意する工程、 (工程2)所定の温度域において、前記検体を含む溶液と前記検出素子とを接触させ、前記目的分子と前記検定用分子とを反応せしめる工程、 (工程3)前記反応の後、前記検出素子へ光を照射して得られる前記検出素子からの透過光、反射光または散乱光から選択される一つ以上の光を検出する工程、 (工程4)前記検出により得られる光を信号に変換する工程、 (工程5)複数の温度域において工程2乃至工程4を行い、それぞれの温度域において得られた前記信号から分子間の相互作用の強度を演算、検定する工程、 を有することを特徴とする、分子間相互作用強度検定方法。
IPC (1)：
G01N 21/27
FI (1)：
G01N21/27 C
F-Term (13)：
2G059AA05 ,  2G059BB04 ,  2G059BB12 ,  2G059DD01 ,  2G059DD13 ,  2G059DD16 ,  2G059EE01 ,  2G059EE02 ,  2G059EE12 ,  2G059GG10 ,  2G059JJ01 ,  2G059JJ11 ,  2G059MM01
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (3) Cited by examiner (5)
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Article cited by the Patent：
Cited by examiner (3)

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