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J-GLOBAL ID：200903029156713744

粒子測定装置

Inventor：
久保田 文雄

About 久保田 文雄


Applicant, Patent owner：
シスメックス株式会社

About シスメックス株式会社


Agent (1)： 野河 信太郎
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998115312
Publication number (International publication number)：1999030580
Application date： Apr. 24, 1998
Publication date： Feb. 02, 1999
Summary：
【要約】【課題】 この発明は、粒子測定装置に関し、特に、粒子の凝集塊の計数を行うことを課題とする。【解決手段】 試料中の各粒子から複数の特徴パラメータを抽出する特徴パラメータ抽出手段と、抽出された特徴パラメータに基づいて第1の分布図を作成する分布図作成手段と、作成された第1の分布図上において、着目粒子を含む分布集団を分画する第1の分画手段と、分画された着目粒子を含む分布集団に対して所定の判別基準を設定し、その判別基準に基づいて前記分布集団の中の粒子を着目粒子か非着目粒子かに判別する判別手段と、その判別手段の判別結果に基づいて着目粒子の数を計数する計数手段とからなることを特徴とする。
Claim (excerpt)：
試料中の各粒子から複数の特徴パラメータを抽出する特徴パラメータ抽出手段と、抽出された特徴パラメータに基づいて第1の分布図を作成する分布図作成手段と、作成された第1の分布図上において、着目粒子を含む分布集団を分画する第1の分画手段と、分画された着目粒子を含む分布集団に対して所定の判別基準を設定し、その判別基準に基づいて前記分布集団の中の粒子を着目粒子か非着目粒子かに判別する判別手段と、その判別手段の判別結果に基づいて着目粒子の数を計数する計数手段とからなることを特徴とする粒子測定装置。
IPC (3)：
G01N 15/14 ,  G01N 33/483 ,  G01N 33/49
FI (5)：
G01N 15/14 K ,  G01N 15/14 C ,  G01N 33/483 C ,  G01N 33/49 F ,  G01N 33/49 H
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (11)
  • 特開平2-042358
  • フローサイトメータ
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-323134   Applicant：東亜医用電子株式会社
  • 特開平1-312443
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