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J-GLOBAL ID：200903029693475272

スピン・キャパシター

Inventor： 武笠 幸一 ,  澤村 誠
Applicant, Patent owner： 科学技術振興事業団
Agent (1)： 清水 守
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997252201
Publication number (International publication number)：1999094858
Application date： Sep. 17, 1997
Publication date： Apr. 09, 1999
Summary：

【要約】【課題】 最小の機能電子素子としてのスピン・キャパシターを提供する。【解決手段】 分子3としてはup(アップ)のスピン状態を取り易いものを選ぶ。例えば、物質表面として、シリコン面を用い、水素原子を単独で吸着させると、系はこのような電子状態を取る。ここでSTM探針2から様々のスピン状態を持った電子が分子3に流入しようとするが、分子3がHOMO〔Highest Occupied Molecular Orbital:最高占有分子軌道関数〕にup状態の電子を持っているため、upの入射電子は反発する。結果として、入射側(STM側)にはup状態の電子密度が高まり、物質表面側にはdown(ダウン)状態の電子密度が高まる。つまり、スピン・キャパシターが構成される。

Claim (excerpt)：

回路内に多重度が既知の分子を挿入し、入力電子の内、前記分子を通過できる電子は多重度に適合したスピンを持つものに限られ、出力された電子のスピンは挿入された分子の近傍では一定のスピン状態を維持する性質を利用することにより、入力・出力間のスピン統計を制御するようにしたスピン・キャパシター。

IPC (2)：

G01N 37/00 ,  G11C 11/24

FI (2)：

G01N 37/00 B ,  G11C 11/24

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

• 走査型プローブ顕微鏡用探針
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-245075   Applicant：株式会社東芝
• 単一電子トンネリング素子
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-235288   Applicant：株式会社東芝
• 試料表面観察方法及びそれに用いる探針
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-109174   Applicant：ワイケイケイ株式会社
• 表面観察装置用プローブおよびその製造方法ならびに表面観察装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-170012   Applicant：株式会社日立製作所
• キャリアのスピンのフィルタ及びこれを用いた磁化分布測定方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-050730   Applicant：ソニー株式会社