Pat
J-GLOBAL ID:200903031048015415

米の生産地特定方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 須田 正義
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2005001969
Publication number (International publication number):2006189351
Application date: Jan. 07, 2005
Publication date: Jul. 20, 2006
Summary:
【課題】短期間でかつ高い精度で生産地を特定し得る、米の生産地特定方法を提供する。【解決手段】本発明の米の生産地特定方法は、複数の米生産地域における天水を安定同位体比質量分析計を用いて天水毎に水素同位体比並びに酸素同位体比を求める工程10と、生産地域が未知の米サンプルを所定の型に入れて所定の圧力で圧縮することにより米サンプルに含まれる水分を抽出する工程11と、米サンプルから抽出した水分を安定同位体比質量分析計を用いて水素同位体比並びに酸素同位体比を求める工程12と、求めた米サンプルから抽出した水分における水素同位体比及び酸素同位体比を複数の米生産地域における天水の水素同位体比及び酸素同位体比と比較して米サンプルの生産地域を特定する工程13とを含むことを特徴とする。【選択図】図1
Claim (excerpt):
複数の米生産地域における天水を安定同位体比質量分析計を用いて前記天水毎に水素同位体比並びに酸素同位体比を求める工程(10)と、 生産地域が未知の米サンプルを所定の型に入れて所定の圧力で圧縮することにより前記米サンプルに含まれる水分を抽出する工程(11)と、 前記米サンプルから抽出した水分を安定同位体比質量分析計を用いて水素同位体比並びに酸素同位体比を求める工程(12)と、 前記求めた米サンプルから抽出した水分における水素同位体比並びに酸素同位体比を前記複数の米生産地域における天水の水素同位体比並びに酸素同位体比と比較して前記米サンプルの生産地域を特定する工程(13)と を含むことを特徴とする米の生産地特定方法。
IPC (2):
G01N 27/62 ,  G01N 33/10
FI (3):
G01N27/62 V ,  G01N27/62 D ,  G01N33/10
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (7)
Show all
Article cited by the Patent:
Return to Previous Page