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J-GLOBAL ID：200903031398555862

走査型レーザ顕微鏡装置及び光量検出装置

Inventor：
服部 敏征

About 服部 敏征


Applicant, Patent owner：
オリンパス株式会社

About オリンパス株式会社


Agent (2)： 上田 邦生 ,  藤田 考晴
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005283023
Publication number (International publication number)：2007093988
Application date： Sep. 28, 2005
Publication date： Apr. 12, 2007
Summary：
【課題】オペレータに対して、光刺激により標本に照射した光量を通知することにより、定量的な観察を可能とする走査型レーザ顕微鏡装置及び光量検出装置を提供することを目的とする。【解決手段】標本の特定部位に刺激を与えるための刺激用レーザ光を照射する刺激用光学系20と、刺激用レーザ光の光強度を計測する光検出器42と、光検出器42からの計測値を補正する光量補正回路43と、光量補正回路43からの検出値を積算する積算回路44と、積算回路44からの検出積算値を表示する表示装置6とを備えるレーザ顕微鏡装置を提供する。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
標本の特定部位に刺激を与えるための刺激用レーザ光を照射する刺激用光学系と、 前記刺激用レーザ光の光強度を計測する光強度計測手段と、 前記光強度計測手段からの計測値を積算する積算手段と、 前記積算手段の積算結果を表示する表示手段と を具備するレーザ顕微鏡装置。
IPC (2)：
G02B 21/00 ,  G01N 21/64
FI (2)：
G02B21/00 ,  G01N21/64 E
F-Term (23)：
2G043AA03 ,  2G043FA01 ,  2G043FA02 ,  2G043FA06 ,  2G043GA02 ,  2G043GB21 ,  2G043HA01 ,  2G043HA02 ,  2G043HA09 ,  2G043KA09 ,  2G043LA03 ,  2H052AA08 ,  2H052AB06 ,  2H052AC02 ,  2H052AC07 ,  2H052AC14 ,  2H052AC15 ,  2H052AC18 ,  2H052AC27 ,  2H052AC34 ,  2H052AF06 ,  2H052AF14 ,  2H052AF21
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (1)
  • 走査型レーザー顕微鏡
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2001-392524   Applicant：オリンパス光学工業株式会社
Cited by examiner (7)
  • 走査型レーザー顕微鏡
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2001-392524   Applicant：オリンパス光学工業株式会社
  • 顕微鏡
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2002-040101   Applicant：オリンパス光学工業株式会社, 株式会社日本ローパー, 科学技術振興事業団
  • 試料調整法
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2000-118633   Applicant：オリンパス光学工業株式会社, 株式会社日本ローパー, 科学技術振興事業団
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