Pat
J-GLOBAL ID:200903032655889862
放射線を検出する機器および方法
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (2):
矢口 太郎
, 山口 康明
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2007558114
Publication number (International publication number):2008537774
Application date: Feb. 26, 2006
Publication date: Sep. 25, 2008
Summary:
【解決手段】 デジタル画像、または感光性半導体ベースの撮像装置に含まれる画素からの電荷を使用すると、放射性材料により放出されるガンマ線およびエネルギー粒子を検出することができる。高エネルギーガンマ線によりデジタル画像およびビデオ画像にもたらされる画素スケールのアーチファクトを識別するには、いくつかの方法を使用できる。前記画像または画素における前記アーチファクトについて統計的検定および他の比較を行うことにより、ガンマ線の偽陽性検出が防止可能になる。当該システムの感度を使用すると、50メートルを超えた距離にある放射線物質を検出することができる。高度な処理技術を使用すると、勾配法で線源の位置をより正確に決定できるようになり、他の工程を使用すると、同位元素を具体的に識別できるようになる。異なる撮像装置警報およびネットワーク警報を調整することにより、当該システムでは、非放射性の対象を放射性の対象から別けることができる。【選択図】 図3
Claim (excerpt):
システムであって、
少なくとも1つの高エネルギー粒子と、
少なくとも1つの撮像装置であって、前記少なくとも1つの高エネルギー粒子と相互作用できる1若しくはそれ以上の画素を有し、前記高エネルギー粒子と前記画素との前記相互作用に関する情報を中継でき、同時に画像を取得できる、前記少なくとも1つの撮像装置と、
前記少なくとも1つの撮像装置と通信可能な少なくとも1つのプロセッサであって、1若しくはそれ以上の画素が前記少なくとも1つの高エネルギー粒子と相互作用したことを決定できる、前記少なくとも1つのプロセッサと、
前記少なくとも1つの高エネルギー粒子の存在を報告する出力装置と
を有するシステム。
IPC (6):
G01T 1/16
, G01T 1/24
, G01T 1/20
, G06T 1/00
, G01V 8/10
, G08B 13/189
FI (7):
G01T1/16 B
, G01T1/24
, G01T1/20 E
, G01T1/20 G
, G06T1/00 280
, G01V9/04 S
, G08B13/189
F-Term (50):
2G088EE30
, 2G088FF04
, 2G088FF09
, 2G088FF15
, 2G088FF18
, 2G088GG19
, 2G088GG20
, 2G088GG21
, 2G088JJ05
, 2G088JJ30
, 2G088KK20
, 2G088KK24
, 2G088KK29
, 2G088KK32
, 2G088KK35
, 2G088LL11
, 2G088LL13
, 2G088MM01
, 2G088MM04
, 2G088MM09
, 5B057AA16
, 5B057AA19
, 5B057AA20
, 5B057BA02
, 5B057CA08
, 5B057CA12
, 5B057CA16
, 5B057CB08
, 5B057CB12
, 5B057CB16
, 5B057DA07
, 5B057DA15
, 5B057DB02
, 5B057DB09
, 5B057DC32
, 5C084AA03
, 5C084AA09
, 5C084AA13
, 5C084BB31
, 5C084CC31
, 5C084DD11
, 5C084EE01
, 5C084FF02
, 5C084GG07
, 5C084GG09
, 5C084GG12
, 5C084GG78
, 5C084HH01
, 5C084HH12
, 5C084HH13
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (18)
-
放射線分布検出装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-140144
Applicant:三菱電機株式会社
-
特開平2-174838
-
有機及び無機パシベーション層からなる画像センサ
Gazette classification:公表公報
Application number:特願平9-514877
Applicant:フィリップスエレクトロニクスエヌベー
-
CCDアレイ形式のX線検出器を有するX線分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-389212
Applicant:コーニンクレッカフィリップスエレクトロニクスエヌヴィ
-
暗化防止CCD素子
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-242997
Applicant:株式会社東芝
-
中央読出口腔内画像センサ
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-015029
Applicant:ローラルフェアチャイルドコーポレーション
-
1回の放射線照射により対象物に対する2つの放射線撮影画像を生成するための装置および方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-112831
Applicant:イーストマンコダックカンパニー
-
レジストパターンおよびその形成方法、薄膜パターン形成方法ならびにマイクロデバイスの製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-025696
Applicant:ティーディーケイ株式会社
-
特許第6448562号
-
放射線撮像装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-126603
Applicant:核融合科学研究所長
-
特開昭63-151884
-
放射源の位置を特定するための方法および装置
Gazette classification:公表公報
Application number:特願平10-535430
Applicant:カンパニージェネラルデマティエーレニュークリエーレ
-
特開昭58-018181
-
特開昭60-227186
-
放射線源像再構成装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-028465
Applicant:竹本昭三
-
特開平3-138592
-
放射線計測装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-243698
Applicant:株式会社東芝, 東芝エンジニアリング株式会社
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ガンマ線検出方法及び検出装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-259922
Applicant:理化学研究所
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Article cited by the Patent:
Cited by examiner (1)
-
A CCD miniature radiation monitor
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