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J-GLOBAL ID:200903033624507160
顕微鏡装置
Inventor:
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
古谷 史旺
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000337934
Publication number (International publication number):2002148526
Application date: Nov. 06, 2000
Publication date: May. 22, 2002
Summary:
【要約】【課題】 本発明は、操作性及び観察環境の優れた箱型の顕微鏡装置を提供することを目的とする。【解決手段】 筐体(10a,10d,10c,20a,30a)の内部に、試料(10A)を支持する支持部材(11)と、前記試料上の一部の領域の像を生成する第1の光学系(17a,17b,14a,14b)と、前記第1の光学系が生成した像を光電検出する第1の撮像手段(18)と、前記試料上の全体像を生成する第2の光学系(17c)と、前記第2の光学系が生成した全体像を光電検出する第2の撮像手段(18)とを収納したことを特徴とする。第1の光学系の他に、全体画像を取得するための専用の光学系(第2の光学系)を設けたので、全体画像は迅速に取得される。
Claim (excerpt):
筐体の内部に、試料を支持する支持部材と、前記試料上の一部の領域の像を生成する第1の光学系と、前記第1の光学系が生成した像を光電検出する第1の撮像手段と、前記試料上の全体像を生成する第2の光学系と、前記第2の光学系が生成した全体像を光電検出する第2の撮像手段とを収納したことを特徴とする顕微鏡装置。
F-Term (12):
2H052AB25
, 2H052AC05
, 2H052AC28
, 2H052AD02
, 2H052AD16
, 2H052AD31
, 2H052AD32
, 2H052AD34
, 2H052AD35
, 2H052AF14
, 2H052AF21
, 2H052AF23
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (6)
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モニタ観察型顕微鏡
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-150724
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
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検査顕微鏡システム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-228160
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
-
顕微鏡
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-230229
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
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表面分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-330064
Applicant:セイコーインスツルメンツ株式会社, 三菱電機株式会社
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マクロレンズを備えた顕微鏡
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-035110
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
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共焦点顕微鏡及び共焦点顕微鏡等に用いられるリレー光学系
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-281349
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
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