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J-GLOBAL ID:200903033847215810
内部品質判定装置
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
Agent (1):
矢野 寿一郎
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2006188188
Publication number (International publication number):2008014873
Application date: Jul. 07, 2006
Publication date: Jan. 24, 2008
Summary:
【課題】大きさや載置姿勢、または、搬送ピッチ等に左右されず、搬送されてくる青果物の個々にあった赤外線照射タイミングと、光量が選定され、適確に品質判定される内部品質判定装置を提供することが課題である。【解決手段】青果物6を搬送する搬送手段2と、赤外線を照射して該青果物6の品質を非破壊で判定する品質判定手段(内部品質センサ4)と、該青果物6の形状を解析する画像処理手段と、を備えた内部品質判定装置1であって、前記画像処理手段を内部品質センサ4の上流部近傍に配設し、該画像処理手段により青果物6の重心位置を演算し、該青果物6の重心が前記内部品質センサ4に達したときに、検出光を照射する。【選択図】図2
Claim (excerpt):
青果物を搬送する搬送手段と、赤外線を照射して該青果物の品質を非破壊で判定する品質判定手段と、該青果物の形状を解析する画像処理手段と、を備えた内部品質判定装置であって、前記画像処理手段を品質判定手段の上流部近傍に配設し、該画像処理手段により青果物の重心位置を演算し、該青果物の重心が前記品質判定手段に達したときに、検出光を照射することを特徴とする内部品質判定装置。
IPC (2):
FI (2):
G01N21/35 Z
, G01B11/24 K
F-Term (28):
2F065AA17
, 2F065AA51
, 2F065AA61
, 2F065BB07
, 2F065CC00
, 2F065FF41
, 2F065FF67
, 2F065JJ03
, 2F065JJ09
, 2F065JJ26
, 2F065PP15
, 2F065QQ24
, 2G059AA01
, 2G059AA05
, 2G059BB11
, 2G059DD12
, 2G059EE01
, 2G059GG01
, 2G059GG02
, 2G059GG03
, 2G059GG07
, 2G059HH01
, 2G059KK01
, 2G059KK04
, 2G059MM01
, 2G059MM09
, 2G059MM10
, 2G059NN10
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
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農産物非破壊品質判定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2003-162675
Applicant:ヤンマー株式会社
Cited by examiner (8)
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評価装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-372448
Applicant:株式会社クボタ
-
農産物非破壊品質判定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-354773
Applicant:ヤンマー農機株式会社
-
青果物の内部品質検査方法およびその装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-129824
Applicant:東洋製罐株式会社
-
青果類の評価装置及び方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-333077
Applicant:三井金属鉱業株式会社
-
農産物非破壊品質判定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-383634
Applicant:ヤンマー農機株式会社
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分光分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-369931
Applicant:株式会社クボタ
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透過法による青果物の内部品質測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-087342
Applicant:三井金属鉱業株式会社, 財団法人熊本テクノポリス財団
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光学的測定方法及びその装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-041944
Applicant:財団法人雑賀技術研究所
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