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J-GLOBAL ID:200903033871795330
赤外吸収スペクトル分析用サンプル並びにその作成方法及び作成装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (3):
山下 穣平
, 志村 博
, 永井 道雄
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2005188456
Publication number (International publication number):2007010351
Application date: Jun. 28, 2005
Publication date: Jan. 18, 2007
Summary:
【課題】 微小サンプルを赤外吸収スペクトル分析する際に赤外吸収ピークを鮮明に得ることが可能で紛失のおそれの少ない赤外吸収スペクトル分析用サンプルを提供する。【解決手段】 分析対象物を含む試料1を、赤外吸収スペクトル分析に使用される波長範囲において邪魔になる吸収ピークを持たない窓材2の表面に形成された0.8μm以上の深さの凹部5内に配置する(a)。窓材2より表面エネルギーの低い材料で構成されている下層部7からなる押圧面を持つ押圧部材6の押圧面を窓材2の表面に圧接することにより試料1を凹部5の深さに対応した厚みに圧延し、これにより、試料1の表面が凹部5の周囲における窓材2の表面と共通の面内にあるようにする(b,c)。その後、押圧部材6を除去することで、圧延された試料1を窓材2の凹部5内に配置した形態で得る(d)。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
分析対象物の赤外吸収スペクトル分析を行う際の測定に使用されるサンプルであって、
前記分析対象物を含む試料は、窓材の表面に形成された0.8μm以上の深さの凹部内に配置されており、前記試料の表面は外気に露出しており且つ前記凹部の周囲における前記窓材の表面と共通の面内にあることを特徴とする赤外吸収スペクトル分析用サンプル。
IPC (2):
FI (2):
F-Term (14):
2G052AD35
, 2G052AD52
, 2G052DA33
, 2G052FD13
, 2G052GA11
, 2G052JA09
, 2G059AA01
, 2G059BB09
, 2G059DD01
, 2G059EE01
, 2G059EE12
, 2G059FF03
, 2G059HH01
, 2G059NN10
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (3)
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赤外線分析用サンプル作成方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-026783
Applicant:ソニー株式会社
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赤外線分析方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-320902
Applicant:ソニー株式会社
-
スペクトル測定用試料保持体および分光光度計
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2003-361267
Applicant:株式会社日本触媒
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