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J-GLOBAL ID：200903035309241243

スペクトル測定用試料保持体および分光光度計

Inventor：
中山 欽一

About 中山 欽一


Applicant, Patent owner：
株式会社日本触媒

About 株式会社日本触媒


Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003361267
Publication number (International publication number)：2004163422
Application date： Oct. 21, 2003
Publication date： Jun. 10, 2004
Summary：
【課題】液状試料の新しい分光スペクトル測定方法およびその測定に使用するに適した液状試料の保持体を提供する。【解決手段】分光光度計の測定室に設置可能となっており、分光スペクトル測定用の光照射手段1から出射される分光スペクトル測定用の照射光を、液状試料に導入可能とした状態で該液状試料を保持するための分光スペクトル測定用試料保持体であって、さらにさらに分光スペクトル測定用以外の別の光照射手段2として、γ線、X線、紫外線、可視光線および遠赤外線から選択される少なくとも1種の光による照射手段2が備えられることを特徴とする液状試料を保持するための分光スペクトル測定用試料保持体である。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
分光光度計の測定室に設置可能となっており、分光スペクトル測定用の光照射手段(21)から出射され、光検出部(22)まで到達する分光スペクトル測定用の照射光を、液状試料または液状試料の塗膜に導入可能とした状態で該液状試料または液状試料の塗膜を保持するための分光スペクトル測定用試料保持体であって、該分光スペクトル測定用試料保持体には、上記液状試料または液状試料の塗膜に分光スペクトル測定用の照射光を導入する光導入路(112)が設けられ、該光導入路(112)の位置が、当該分光スペクトル測定用試料保持体を上記測定室に設置した場合に、上記分光スペクトル測定用の照射光の進行経路(L)に対して平行となる位置であり、 さらに上記測定室には、分光スペクトル測定用以外の別の光照射手段(6)として、電子線、γ線レーザー線、X線、紫外線、可視光線および遠赤外線から選択される少なくとも1種の光または電子線による照射手段(6)が、上記保持体に外付けで備えられており、 さらに当該スペクトル測定用試料保持体には、上記液状試料に分光スペクトル測定用の照射光を導入する光導入路(112)とは別に、該照射手段(6)により照射される光または電子線を該液状試料または液状試料の塗膜に導入可能とする光導入路(116)が設けられ、 該照射手段(6)の位置が、該照射手段(6)より出射される光または電子線を当該試料または液状試料の塗膜に対して導入可能な位置に配置されていることを特徴とする分光スペクトル測定用試料保持体。
IPC (2)：
G01N21/01 ,  G01N21/75
FI (3)：
G01N21/01 B ,  G01N21/01 C ,  G01N21/75 Z
F-Term (34)：
2G043BA14 ,  2G043CA03 ,  2G043DA06 ,  2G043DA08 ,  2G043EA03 ,  2G043EA13 ,  2G043FA03 ,  2G043GA07 ,  2G043GB01 ,  2G043GB05 ,  2G043GB16 ,  2G043KA01 ,  2G043KA02 ,  2G043KA03 ,  2G043KA05 ,  2G054AA02 ,  2G054GA01 ,  2G054GB01 ,  2G059BB04 ,  2G059CC12 ,  2G059DD13 ,  2G059DD16 ,  2G059EE01 ,  2G059EE03 ,  2G059EE12 ,  2G059FF05 ,  2G059FF06 ,  2G059GG03 ,  2G059HH01 ,  2G059HH02 ,  2G059HH03 ,  2G059HH05 ,  2G059HH06 ,  2G059LL01
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (8)
  • 特開平01-170843号公報(第1頁、第4〜6頁)
  • 硬化反応の測定方法及び装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-027795   Applicant：住友電気工業株式会社
  • 試料ホルダ及びそれを用いた測定装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平10-112985   Applicant：日本分光株式会社
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Cited by examiner (4)
  • 特開平4-143637
  • 微粒子検出器の光軸調整機構
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-089531   Applicant：日立電子エンジニアリング株式会社
  • 特開平1-295134
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