Pat
J-GLOBAL ID：200903034001496384

バッチ処理監視および検査システム

Inventor：
山本 英雄

About 山本 英雄

, 
荒瀬 譲二

About 荒瀬 譲二


Applicant, Patent owner：
株式会社日立製作所

About 株式会社日立製作所


Agent (1)： 小川 勝男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997198171
Publication number (International publication number)：1999039196
Application date： Jul. 24, 1997
Publication date： Feb. 12, 1999
Summary：
【要約】【課題】自動的に収集したバッチ処理の処理結果をもとに、状態をシステムで判断しその状態に応じて画面への表示内容を動的に変化させ効率よく検査をおこなうことを可能にする。【解決手段】バッチ処理の情報をホストからサーバへ取得する手段、収集した情報を検査式によって検査する手段、バッチ処理の状態を判断し処理状況コードで管理する手段、処理状況コード及び検査結果に応じて画面に表示するバッチ処理ボックスの色を変化させて表示する手段、異常終了したバッチ処理を特別の表示エリアに表示する手段により構成される。
Claim (excerpt)：
バッチ処理の処理結果の検査をするシステムにおいて、バッチ処理の入出力レコード件数をホストから取得し、事前に登録した検査式によって処理を検査する手段と、取得した情報にもとづいて表示内容を変化させる手段と、任意の条件を満たすバッチ処理を集約して表示する手段とからなる事を特徴とするバッチ処理実行監視および検査システム。
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (15)
Show all

Return to Previous Page

TOP

BOTTOM