パルス波形分析による単一トランスデューサ内同時発生放射線の検出

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (4)：熊倉禎男 , 大塚文昭 , 西島孝喜 , 須田洋之
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2008519507
Publication number (International publication number)：2009500608
Application date： Jun. 27, 2006
Publication date： Jan. 08, 2009
Summary：

【解決手段】パルス波形分析は、2つの放射線が同時発生であるか否かを判定する。第1放射線を吸収したときは、第1の短い時定数を特徴とし、且つその面積が公称的には吸収された第1放射線のエネルギーに比例している出力パルスを生成し、第2放射線を吸収したときは、第2の長い時定数を特徴とし、且つその面積が公称的には吸収された第2放射線のエネルギーに比例している出力パルスを生成する、トランスデューサが提供されている。放射線が吸収されると、出力パルスが検出され、第1時定数を表している期間に亘る第1積分値と、第2時定数を表している期間に亘る第2積分値の2つの積分値が形成される。2つの積分の値が調べられ、第1放射線、第2放射線、又は両方が、トランスデューサに吸収されたか否かが判定され、後者の条件は同時吸収事象を明らかにしている。【選択図】図13

Claim (excerpt)：

2つの放射線が同時発生か否かを判定するための方法において、第1放射線を吸収したときは、第1の短い時定数を特徴とする出力パルスを生成し、第2放射線を吸収したときは、第2の長い時定数を特徴とする出力パルスを生成する、トランスデューサを提供する段階と、前記トランスデューサが放射線を吸収したときに生成した出力パルスを検出する段階と、前記第1時定数を表している第1期間に亘って前記パルスの第1積分を行い、前記第2時定数を表している第2期間に亘って前記パルスの第2積分を行う段階と、前記第1及び前記第2の両積分の値を調べて、前記第1放射線、前記第2放射線、又はその両方が、前記トランスデューサに吸収されたか否かを判定する段階であって、後者の条件は同時吸収事象を明らかにしている段階と、から成る方法。

IPC (2)：

G01T 1/172 , G01T 1/20

FI (2)：

G01T1/172 , G01T1/20 F

F-Term (10)：

2G088EE08 , 2G088FF02 , 2G088FF04 , 2G088FF05 , 2G088FF06 , 2G088GG18 , 2G088KK06 , 2G088KK15 , 2G088KK24 , 2G088KK28

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (4)

米国仮特許出願第60/695,948号
米国特許第5,347,129号
米国特許第5,873,054号

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Cited by examiner (7)

放射線弁別装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2002-331862 Applicant：三菱重工業株式会社
放射線検出器および放射線測定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-229907 Applicant：株式会社東芝
中性子およびX線又はガンマ線光子の同時選択検出装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平6-011298 Applicant：コミツサリアタレネルジーアトミーク

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