AFMピンセット、AFMピンセットの製造方法および走査型プローブ顕微鏡

Inventor： , , ,
Applicant, Patent owner： ,
Agent (1)：永井冬紀
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2007165641
Publication number (International publication number)：2009002870
Application date： Jun. 22, 2007
Publication date： Jan. 08, 2009
Summary：

【課題】走査型プローブ顕微鏡において、高精度な観察と、安定した把持とを両立させることができるAFMピンセットの提供。【解決手段】AFMピンセットは、三角柱部材の稜線の先端を走査型プローブ顕微鏡の探針として使用可能な第1のプローブ10Bと、第1のプローブ10Bに対して開閉自在に設けられた三角柱部材から成る第2のプローブ20Bとを備え、各三角柱部材の所定の周面がほぼ平行状態で対向するようにプローブ10B,20Bを並置した。そして、稜線の先端で試料を走査する際の試料との干渉を防止する切り欠き部100を、第1のプローブ10Bに形成した。【選択図】図2

Claim (excerpt)：

三角柱部材の稜線の先端を走査型プローブ顕微鏡の探針として使用可能な第1のプローブと、前記第1のプローブに対して開閉自在に設けられた三角柱部材から成る第2のプローブとを、各三角柱部材の所定の周面がほぼ平行状態で対向するように並置したAFMピンセットであって、前記稜線の先端で試料を走査する際の前記試料との干渉を防止する切り欠き部を、前記第1のプローブに形成したことを特徴とするAFMピンセット。

IPC (6)：

G01N 13/16 , G01N 13/10 , B25J 15/08 , B81B 3/00 , B81C 1/00 , B25J 7/00

FI (6)：

G01N13/16 101G , G01N13/10 K , B25J15/08 A , B81B3/00 , B81C1/00 , B25J7/00

F-Term (20)：

3C007AS09 , 3C007BS03 , 3C007BS30 , 3C007DS01 , 3C007ES02 , 3C007ET08 , 3C007EU17 , 3C007HS10 , 3C007KS29 , 3C007KV11 , 3C007KX05 , 3C007XG05 , 3C081BA07 , 3C081BA43 , 3C081BA48 , 3C081BA53 , 3C081CA14 , 3C081CA23 , 3C081DA04 , 3C081EA19

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

ナノピンセット及びこれを用いたナノマニピュレータ装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2000-112767 Applicant：中山喜萬, 大研化学工業株式会社

Cited by examiner (8)

微小探針の作製方法、及び微小探針
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平11-127412 Applicant：キヤノン株式会社
微小力または微小電流検出用のプローブ及びその製造方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平9-191851 Applicant：キヤノン株式会社
プローブ構造体及び走査型プローブ顕微鏡
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2006-155995 Applicant：エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社

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