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J-GLOBAL ID：200903036821886295

画像処理により対象物の表面状態を検査する方法及びそのための画像処理プログラム

Inventor：
宮本 文穂

About 宮本 文穂

, 
後藤 悟史

About 後藤 悟史


Applicant, Patent owner：
国立大学法人山口大学

About 国立大学法人山口大学


Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2006254418
Publication number (International publication number)：2008076167
Application date： Sep. 20, 2006
Publication date： Apr. 03, 2008
Summary：
【課題】対象物の表面を撮像した画像について画像処理を行うことにより、対象物の表面状態を精度よく識別し、経験、知識あるいは特殊な装置を要することなく対象物の表面状態を検査できるようにする。【解決手段】対象物の表面を撮像して得られ評点が付与されている画像について水平方向及び鉛直方向にウェーブレット変換を行い、最大解像度をkとして全解像度の周波数エネルギー和に対する解像度mにおける画像全体の周波数エネルギーEmの比Enmと全解像度の周波数エネルギー和に対する解像度mにおける斜め方向の周波数エネルギーの比Elmとの解像度mごとの値を成分とする2k次元の特徴ベクトルEを複数の画像の各々に対して求める。求められた特徴ベクトルをサポートベクトルマシンにより評点にしたがって分類して時別モデルを構築する。構築された識別モデルを用いて評点が未知の画像の評点をその特徴ベクトルEにより識別する。【選択図】図6
Claim (excerpt)：
表面状態が評点により分類される対象物の表面状態を撮像した画像について画像処理を行って表面状態を表す評点の識別により対象物の表面状態を検査する方法であって、 対象物の表面を撮像して得られ評点が付与されている画像について水平方向及び鉛直方向にウェーブレット変換を行い、最大解像度をkとして全解像度の周波数エネルギー和に対する解像度mにおける画像全体の周波数エネルギーEmの比Enmと解像度mにおける水平方向及び鉛直方向の周波数エネルギー和に対する斜め方向のエネルギーの比Elmとの解像度mごとの値を成分とする2k次元の特徴ベクトルEを求めるウェーブレット解析を複数の画像の各々に対して行うことと、 多次元の複数のベクトルを超平面により2つのクラスに分類するサポートベクトルマシンにより前記複数の画像にそれぞれ対応する2k次元の特徴ベクトルEを評点にしたがって分類して評点が未知の画像の評点をその特徴ベクトルEにより識別するための識別モデルを構築することと、 構築された前記識別モデルにより評点が未知の画像についての特徴ベクトルEからその評点を識別することと、 からなることを特徴とする対象物の表面状態を検査する方法。
IPC (2)：
G01N 21/892 ,  G06T 7/40
FI (2)：
G01N21/892 B ,  G06T7/40 A
F-Term (17)：
2G051AA37 ,  2G051AB07 ,  2G051CA03 ,  2G051CA04 ,  2G051EA12 ,  2G051EC04 ,  2G051ED04 ,  2G051ED21 ,  5L096AA06 ,  5L096BA03 ,  5L096BA20 ,  5L096CA02 ,  5L096DA02 ,  5L096EA24 ,  5L096FA26 ,  5L096JA22 ,  5L096MA07
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (5)
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Article cited by the Patent：
Cited by examiner (1)

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