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J-GLOBAL ID:200903037048161495
表面汚染測定装置及び放射線検出器
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
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Agent (3):
森 哲也
, 内藤 嘉昭
, 崔 秀▲てつ▼
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2004075616
Publication number (International publication number):2005265498
Application date: Mar. 17, 2004
Publication date: Sep. 29, 2005
Summary:
【課題】 測定対象物の表面が湾曲状や凹凸状の場合、又は測定対象物が入り組んでいる場合でも、放射線を微量であっても正確に測定すること。【解決手段】 所定の放射線のみを透過する遮光膜23を透過した放射線を、シンチレータ22に入射し、シンチレータ22においてその放射線の量に応じた光を発光させる。この光をアクリルパイプ21によって伝搬させ、各光電子増倍管17-1〜17〜5で検出する。この検出信号を、計測器13の補正部31で補正し、この補正結果から放射線の量を計測する。このように計測可能な放射線検出器11を棒状とすることにより、測定対象物の表面が湾曲状の場合、例えば測定対象物が配管の内面である場合でも、その配管内に検出器を挿入して、微量の放射線でも正確に測定可能とする。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
細長い筒状で光を伝搬するパイプの外周面に、放射線が入射されると光を発光するシンチレータを取り付け、このシンチレータの外周面を、所定の放射線のみを透過し、他の光は遮光する遮光膜で被覆し、前記パイプの内部に、前記シンチレータから発光された光を検出する光電子増倍管を固定して成る検出手段と、
前記光電子増倍管での光の検出に応じて前記検出手段から出力される検出信号より放射線の量を求める計測手段と
を備えたことを特徴とする表面汚染測定装置。
IPC (3):
G01T1/169
, G01T1/20
, G21C17/00
FI (4):
G01T1/169 A
, G01T1/20 B
, G01T1/20 C
, G21C17/00 D
F-Term (19):
2G075CA13
, 2G075DA08
, 2G075FA18
, 2G075FC14
, 2G075GA02
, 2G088EE11
, 2G088EE17
, 2G088EE21
, 2G088FF05
, 2G088GG13
, 2G088GG14
, 2G088GG18
, 2G088GG20
, 2G088JJ01
, 2G088JJ09
, 2G088JJ36
, 2G088KK06
, 2G088KK29
, 2G088LL15
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (2)
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放射性表面汚染測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-113752
Applicant:アロカ株式会社
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サーベイメータ遮光膜破損検出装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-289481
Applicant:核燃料サイクル開発機構
Cited by examiner (4)
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ファイバ型放射線検出器
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-277240
Applicant:東北電力株式会社, 三菱重工業株式会社
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特開平4-204079
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ファイバ型放射線検出器
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-044903
Applicant:東北電力株式会社, 三菱重工業株式会社
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放射能汚染された配管内部の汚染分布測定法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-242037
Applicant:日本原子力研究所
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