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J-GLOBAL ID:200903038084186700
データ解析方法、データ解析装置、プログラム、及び記録媒体
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
井上 誠一
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003071920
Publication number (International publication number):2004279248
Application date: Mar. 17, 2003
Publication date: Oct. 07, 2004
Summary:
【課題】迅速なデータ判定を可能にするデータ解析方法を提供する。【解決手段】管体5の内外腐食や金属増肉を調査するために、漏洩磁束法を利用した検査ピグ1を、管体5内部を走行させてデータを取得し、取得データを演算処理装置に転送する。取得データに対して、腐食減肉を抽出するために所定の閾値を設定する。取得データのうち設定された閾値以上のデータを抽出し、データを区切り線で区切って表示させる。また、マイナス側に閾値を設定して設定値以下の部分を表示して、溶接線の位置を自動的に特定する。【選択図】 図6
Claim (excerpt):
漏洩磁束法を用いる検査ピグによる管体検査において、
前記検査ピグが取得し演算処理装置に転送されるデータに、閾値を設定して設定値以上のデータを抽出する抽出工程と、
抽出されたデータ領域を、区切り線で区切って表示する表示工程と、
を有することを特徴とするデータ解析方法。
IPC (1):
FI (1):
F-Term (13):
2G053AA11
, 2G053AB22
, 2G053BA12
, 2G053BA26
, 2G053BB11
, 2G053BC20
, 2G053CB22
, 2G053CB24
, 2G053CB27
, 2G053CB29
, 2G053DB05
, 2G053DB25
, 2G053DB27
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
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漏洩磁束ピグを用いた管の溶接線位置の検知方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-359180
Applicant:東京瓦斯株式会社
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導管検査用ピグの走行監視システム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-237848
Applicant:東京瓦斯株式会社
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特開昭58-180137
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特開昭60-239667
-
欠陥検査方法,欠陥検査装置及び欠陥検査支援方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-067091
Applicant:株式会社日立製作所
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