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J-GLOBAL ID:200903038828049464
ワークの精度測定装置と精度測定方法
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
特許業務法人快友国際特許事務所
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003145672
Publication number (International publication number):2004347492
Application date: May. 23, 2003
Publication date: Dec. 09, 2004
Summary:
【課題】ワークを位置測定装置に対して位置決めする際に用いる治具が、位置ずれを起こす恐れのある治具であった場合でも、ワークの形状を正確に測定できる技術を提供する。【課題を解決するための手段】治具のワーク位置決め用基準の相対位置関係を予め求めておく。位置測定装置は自身の持つ座標系で、治具の位置と、ワークの測定対象箇所を測定する。位置測定装置の測定結果と、治具の位置決め基準の相対位置関係を元にして、治具に位置決めされたワークの位置の測定結果を、ワーク内で定められたワーク座標系の座標値に座標変換する装置が備えられており、座標変換によって、ワーク自体の形状を正確に表す位置の測定結果が得られる。【選択図】 図3
Claim (excerpt):
「位置測定装置の座標系」で位置を測定する位置測定装置と、
「治具位置測定用基準」と「ワーク位置決め用基準」を備え、「治具位置測定用基準」と「ワーク位置決め用基準」の相対位置関係が既知の治具と、
位置測定装置に対して相対変位不能に保持された治具の「治具位置測定用基準」を位置測定装置で測定した結果に基づいて、治具の「ワーク位置決め用基準」でワークの「治具で位置決めされる基準」を位置決めしたワークの測定対象箇所を位置測定装置で測定した「位置測定装置の座標系での座標値」と、ワークの「治具で位置決めされる基準」に基づいて設定されている「ワーク座標系での座標値」との間で座標変換する装置と、
を備えているワークの精度測定装置。
IPC (1):
FI (1):
F-Term (13):
2F069AA04
, 2F069AA61
, 2F069DD12
, 2F069EE04
, 2F069EE23
, 2F069GG01
, 2F069GG11
, 2F069GG62
, 2F069GG73
, 2F069HH01
, 2F069MM04
, 2F069NN15
, 2F069PP01
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
-
表面形状測定の方法および装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平3-220011
Applicant:キヤノン株式会社
-
形状測定装置及びその方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-337373
Applicant:キヤノン株式会社
-
三次元形状測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-166060
Applicant:キヤノン株式会社
-
測長装置および測長装置の精度確認方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-257425
Applicant:大日本スクリーン製造株式会社
-
3次元形状測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-228648
Applicant:キヤノン株式会社
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