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J-GLOBAL ID：200903041212748505

画像処理方法および画像処理装置ならびに画像処理プログラム

Inventor：
梶 大介

About 梶 大介


Applicant, Patent owner：
コニカミノルタエムジー株式会社

About コニカミノルタエムジー株式会社


Agent (1)： 井島 藤治
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003340417
Publication number (International publication number)：2005109867
Application date： Sep. 30, 2003
Publication date： Apr. 21, 2005
Summary：
【課題】 適切な条件あるいは適切に近い条件で画像処理することが可能な画像処理方法および画像処理装置ならびに画像処理プログラムを実現する。【解決手段】 被写体を透過した放射線の照射線量に応じた信号を有する放射線画像に対し、診断に適した画像を得るための画像処理を行う画像処理装置であって、前記放射線画像の特徴量を算出する特徴量算出手段と、前記特徴量算出手段で算出された特徴量を特徴量評価関数により評価する特徴量評価手段と、前記特徴量評価手段で評価された前記特徴量の評価結果に基づいて画像処理のパラメータを決定するパラメータ決定手段と、前記パラメータ決定手段で決定された前記パラメータにより画像処理を実行する画像処理手段と、を有することを特徴とする。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
被写体を透過した放射線の照射線量に応じた信号を有する放射線画像に対し、診断に適した画像を得るための画像処理を行う画像処理方法であって、 前記放射線画像の特徴量を算出する特徴量算出ステップと、 前記特徴量算出ステップで算出された特徴量を特徴量評価関数により評価する特徴量評価ステップと、 前記特徴量評価ステップで評価された前記特徴量の評価結果に基づいて画像処理のパラメータを決定するパラメータ決定ステップと、 前記パラメータ決定ステップで決定された前記パラメータにより画像処理を実行する画像処理ステップと、 を有することを特徴とする画像処理方法。
IPC (5)：
H04N5/325 ,  G06T1/00 ,  G06T5/00 ,  G06T7/00 ,  G06T7/60
FI (5)：
A61B6/00 350M ,  G06T1/00 290A ,  G06T5/00 100 ,  G06T7/00 250 ,  G06T7/60 300A
F-Term (22)：
4C093EB05 ,  4C093EB12 ,  4C093EB17 ,  4C093FD06 ,  4C093FF08 ,  4C093FF15 ,  4C093FF19 ,  4C093FF28 ,  5B057AA08 ,  5B057CE11 ,  5B057CH01 ,  5B057CH07 ,  5B057DA08 ,  5B057DC16 ,  5L096AA06 ,  5L096BA06 ,  5L096BA13 ,  5L096FA06 ,  5L096FA26 ,  5L096FA32 ,  5L096FA33 ,  5L096MA03
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (2)
  • 半導体装置の解析方法
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-209105   Applicant：三菱電機株式会社
  • 特開2000-1575187号公報(第1〜5頁、図4)
Cited by examiner (12)
  • 異常陰影候補検出方法および装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2000-263641   Applicant：富士写真フイルム株式会社
  • 異常陰影の検出方法
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-011885   Applicant：富士写真フイルム株式会社
  • 画像処理装置及び画像処理方法
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平11-258636   Applicant：コニカ株式会社
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