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J-GLOBAL ID：200903041391683186

質量分析計及び質量分析方法

Inventor：
橋本 雄一郎

About 橋本 雄一郎

, 
長谷川 英樹

About 長谷川 英樹

, 
和氣 泉

About 和氣 泉


Applicant, Patent owner：
株式会社日立ハイテクノロジーズ

About 株式会社日立ハイテクノロジーズ


Agent (1)： 井上 学
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005222327
Publication number (International publication number)：2006294582
Application date： Aug. 01, 2005
Publication date： Oct. 26, 2006
Summary：
【課題】本発明は、高速に電荷分離およびイオンモビリティー分離が可能であり、高いDuty Cycleの測定を行うことが可能なリニアトラップに関する。【解決手段】イオン源と、イオン源によりイオン化されたイオンをトラップするイオントラップと、イオントラップを構成する電極の電圧を制御するイオントラップ制御手段と、イオントラップから排出されたイオンを検出する検出器とを有する質量分析装置であって、イオントラップ制御手段は、電荷分離に用いる電圧の周波数と、第1の電荷を有する第1のイオンをイオントラップ外部へ排出し、第1の電荷より電荷数の少ない第2の電荷数を有する第2のイオン群をイオントラップ内部へ保持する電圧のゲイン値とについて質量電荷比毎のテーブルを有し、設定された質量電荷比に基づいて電圧を制御する。【効果】従来技術に比べ、感度が大幅に向上する。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
イオン源と、 前記イオン源によりイオン化されたイオンをトラップするイオントラップと、 前記イオントラップを構成する電極の電圧を制御するイオントラップ制御手段と、 前記イオントラップから排出されたイオンを検出する検出器とを有する質量分析装置であって、 前記イオントラップ制御手段は、電荷分離に用いる前記電圧の周波数と、第1の電荷を有する第1のイオンを前記イオントラップ外部へ排出し、第1の電荷より電荷数の少ない 第2の電荷数を有する第2のイオン群をイオントラップ内部へ保持する前記電圧のゲイン値とについて質量電荷比毎のテーブルを有し、設定された質量電荷比に基づいて前記電圧を制御することを特徴とする質量分析装置。
IPC (2)：
H01J 49/42 ,  G01N 27/62
FI (3)：
H01J49/42 ,  G01N27/62 B ,  G01N27/62 E
F-Term (10)：
2G041AA10 ,  2G041CA01 ,  2G041DA04 ,  2G041DA05 ,  2G041FA11 ,  2G041GA05 ,  2G041GA08 ,  5C038JJ06 ,  5C038JJ07 ,  5C038JJ11
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (5)
  • 米国特許公報20020175279
  • 米国特許第5,420,425号
  • 米国特許第6,177,668号
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Cited by examiner (6)
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