Pat
J-GLOBAL ID：200903041546357981

コネクタ検査装置

Inventor：
永野 勇二

About 永野 勇二


Applicant, Patent owner：
住友電装株式会社

About 住友電装株式会社


Agent (1)： 小谷 悦司 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001142944
Publication number (International publication number)：2002343527
Application date： May. 14, 2001
Publication date： Nov. 29, 2002
Summary：
【要約】【課題】リテーナの半嵌合状態を確実に検査することができ、しかもリテーナが傷付かないようにすることができるコネクタ検査装置を提供する。【解決手段】コネクタハウジング20と、その側面20aに係合され、半嵌合状態のときに側面20aからリテーナ前側端部21bが突出するリテーナ21とを備えるコネクタ7における半嵌合状態を検査するもので、コネクタ7を保持するホルダ2と、これに対して接離可能に設けられた検査部8と、検査部8をホルダ2側に移動させるレバー5とを具備し、ホルダ2はリテーナ前側端部21bを含むコネクタ7の右端部7aが検査部8側に飛び出した状態でコネクタ7を保持し、検査部8は、リテーナ半嵌合状態であり、接近移動のときに、リテーナ前側端部21bが収納部44の周囲部分44aに当接して第1検査部材3をホルダ2から離れる方向に変位させ、その変位に伴う隙間変化をプローブ38が電気的に検出する。
Claim (excerpt)：
内部に端子が端面開口から挿入装着されるコネクタハウジングと、このコネクタハウジングの側面に前記端子を抜け止めした状態で係合され、その係合が正規嵌合状態のときに前記側面から突出せず、半嵌合状態のときに前記側面から外側に一部が突出するリテーナとを備えるコネクタにおける前記半嵌合状態を検査するコネクタ検査装置であって、前記コネクタを保持するホルダと、該ホルダに対して相対的に接離可能に設けられた検査部と、該ホルダと該検査部を相対的に接離移動させる移動手段とを具備し、前記ホルダは、前記端面開口とは反対側であって前記一部を含むコネクタ端部が検査部側に飛び出した状態にしてコネクタを保持するよう構成され、前記検査部は、前記コネクタ端部がリテーナ正規嵌合状態のとき挿入可、リテーナ半嵌合状態のとき挿入不可となるように設けた収納部を有する第1検査部材と、ホルダ側への弾性ばねの押圧力により該第1検査部材に対して一定距離の隙間をあけた状態で該第1検査部材を保持する第2検査部材と、前記隙間の変化を電気的に検出する検出手段とを備え、リテーナ半嵌合状態である場合、前記移動手段により接近移動されるときに、前記一部が収納部の周囲に当接して第1検査部材を前記押圧力に抗して変位させ、その変位に伴う隙間変化を前記検出手段が検出する構成となっていることを特徴とするコネクタ検査装置。
IPC (2)：
H01R 43/00 ,  G01R 31/04
FI (2)：
H01R 43/00 Z ,  G01R 31/04
F-Term (6)：
2G014AA14 ,  2G014AB38 ,  2G014AB60 ,  2G014AC06 ,  5E051GB06 ,  5E051GB09
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (3)

Return to Previous Page

TOP

BOTTOM