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J-GLOBAL ID:200903041726961879
散乱吸収体計測装置及び計測方法
Inventor:
,
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (3):
長谷川 芳樹
, 寺崎 史朗
, 石田 悟
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003352583
Publication number (International publication number):2005114678
Application date: Oct. 10, 2003
Publication date: Apr. 28, 2005
Summary:
【課題】 散乱吸収体内での光の減衰率と平均光路長との計測を好適に両立することが可能な散乱吸収体計測装置及び計測方法を提供する。【解決手段】 変調信号生成部20において、高周波数f2の信号を低周波数f1の信号で変調した変調信号を生成し、その変調信号で変調された計測光を光供給部10から散乱吸収体SMに照射して、内部を伝搬した光を光検出器15で検出する。また、光検出器15からの検出信号を周波数弁別器16によって弁別し、減衰率計測部30において低周波数の信号成分から光の減衰率を求めるとともに、光路長計測部40において高周波数の信号成分から光の平均光路長を求める。さらに、濃度算出部50において、計測部30、40での計測結果に基づいて、散乱吸収体SM内における吸収物質の濃度を算出する。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
所定の基準周波数よりも低い低周波数の信号を出力する低周波数信号発生手段、前記基準周波数よりも高い高周波数の信号を出力する高周波数信号発生手段、及び前記高周波数信号発生手段からの前記高周波数の信号を前記低周波数信号発生手段からの前記低周波数の信号で変調することが可能な信号変調手段を有し、所定の変調信号を生成する変調信号生成手段と、
散乱吸収体に対して設定された光照射位置から照射するための所定波長の計測光を供給するとともに、前記変調信号生成手段から送出された前記変調信号による前記計測光の変調動作が可能な光供給手段と、
前記光照射位置から前記散乱吸収体に照射された前記計測光のうち、その内部を伝搬して光検出位置に到達した光を検出して検出信号を出力する光検出手段と、
前記検出信号に含まれる前記低周波数の信号成分に基づいて、前記散乱吸収体内での光の減衰率を計測する減衰率計測手段と、
前記検出信号に含まれる前記高周波数の信号成分、及び前記変調信号生成手段からの前記高周波数の信号に基づいて、前記散乱吸収体内での光の平均光路長を計測する光路長計測手段と
を備えることを特徴とする散乱吸収体計測装置。
IPC (3):
G01N21/35
, A61B5/145
, G01N21/17
FI (3):
G01N21/35 Z
, G01N21/17 610
, A61B5/14 310
F-Term (16):
2G059AA01
, 2G059AA06
, 2G059BB13
, 2G059CC18
, 2G059EE01
, 2G059EE02
, 2G059EE11
, 2G059GG01
, 2G059GG06
, 2G059GG07
, 2G059HH01
, 2G059KK01
, 4C038KK01
, 4C038KL05
, 4C038KL07
, 4C038KX04
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
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生体光計測装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-338452
Applicant:株式会社日立製作所
Cited by examiner (8)
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濃度測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-075777
Applicant:浜松ホトニクス株式会社
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生体光計測装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-338452
Applicant:株式会社日立製作所
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散乱吸収体の内部情報の計測方法及び装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-314613
Applicant:浜松ホトニクス株式会社
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散乱吸収体測定方法及び装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-001564
Applicant:浜松ホトニクス株式会社
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分光特性測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-319171
Applicant:浜松ホトニクス株式会社
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特許第3310390号
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特許第3433534号
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特許第3433508号
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Article cited by the Patent:
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