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J-GLOBAL ID:200903049020198820

散乱吸収体測定方法及び装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 長谷川 芳樹 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2002001564
Publication number (International publication number):2003202287
Application date: Jan. 08, 2002
Publication date: Jul. 18, 2003
Summary:
【要約】【課題】 散乱吸収体測定において、測定対象である散乱吸収体中に測定対象領域と非測定対象領域とが存在する場合に、非測定対象領域の影響を除外し、測定対象領域のみの吸収係数変化量を測定する。【解決手段】 測定対象領域Mcと非測定対象領域Meを含む散乱吸収体Mに対し、光入射手段10によって光入射位置S1より入射した所定波長のパルス光が、散乱しながらそれぞれの光路で光検出位置D1及びD2に達し、光検出手段20にて検出される。そして光検出手段20において生成された検出信号を用いて、信号処理手段30において検出光の時間波形を生成する。演算手段40においてこの時間波形を用い、非測定対象領域Meを伝搬する部分光路長が光路によらず一定であるとして、測定対象領域のみの吸収係数変化量を算出する。
Claim (excerpt):
測定対象として想定された測定対象領域を含む散乱吸収体について、前記測定対象領域内での内部情報の時間変化を非侵襲的に測定する散乱吸収体測定方法において、所定波長の光を、前記散乱吸収体に対して所定の光入射位置から入射する光入射ステップと、前記散乱吸収体内部を伝搬した前記所定波長の光を所定の光検出位置で検出して光検出信号を得る光検出ステップと、前記光検出信号に基づいて、検出光の光強度についての時間波形を取得する信号処理ステップと、前記時間波形に基づいて前記検出光の前記散乱吸収体内全体での平均光路長、吸光度、及び前の測定時刻からの吸光度変化量を求め、それらを用いて前記測定対象領域内での前記前の測定時刻からの吸収係数変化量を算出する演算ステップとを備え、前記光入射ステップにおける前記光入射位置、または前記光検出ステップにおける前記光検出位置の少なくとも一方を複数とするとともに、前記演算ステップにおいて、前記光入射位置と前記光検出位置との組み合わせによる複数の光路のそれぞれに対して前記平均光路長、前記吸光度、及び前記吸光度変化量を求め、前記平均光路長に含まれる非測定対象領域での部分光路長を光路によらず一定として、既知である前記平均光路長及び前記吸光度変化量と、未知である前記吸収係数変化量とについて所定の関係式を適用することによって、前記吸収係数変化量を算出することを特徴とする散乱吸収体測定方法。
IPC (4):
G01N 21/17 610 ,  G01N 21/17 625 ,  A61B 5/145 ,  A61B 10/00
FI (4):
G01N 21/17 610 ,  G01N 21/17 625 ,  A61B 10/00 E ,  A61B 5/14 310
F-Term (28):
2G059AA01 ,  2G059AA02 ,  2G059BB12 ,  2G059CC16 ,  2G059CC18 ,  2G059EE01 ,  2G059EE02 ,  2G059EE11 ,  2G059FF04 ,  2G059FF06 ,  2G059GG01 ,  2G059GG02 ,  2G059GG08 ,  2G059HH01 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK02 ,  2G059KK03 ,  2G059LL01 ,  2G059MM01 ,  2G059MM09 ,  2G059MM10 ,  4C038KK00 ,  4C038KL05 ,  4C038KL07 ,  4C038KM01 ,  4C038KX02
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (8)
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