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J-GLOBAL ID:200903043940707575
高速材質識別検査装置および方法
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (3):
堀田 実
, 仲宗根 康晴
, 野村 俊博
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2007208999
Publication number (International publication number):2009042134
Application date: Aug. 10, 2007
Publication date: Feb. 26, 2009
Summary:
【課題】減衰特性が未知の物質であっても、短時間にその材質を識別することができ、かつ予めX線の検出出力と対象物の厚みとの特性データを求める必要がない高速材質識別検査装置および方法を提供する。【解決手段】被検査物5に2以上の異なる方向から複数の強度の入射X線7を照射するX線照射装置14と、被検査物を透過した透過X線8の強度と複数のX線透過画像から被検査物の厚さxを検出するX線検出装置16と、複数の強度、透過X線の強度、および厚さから被検査物の原子番号Zと電子密度ρを算出し、これから被検査物の材質を識別する演算装置18とを備える。比例定数A,Bに少なくとも一方を、原子番号が4から30の物質においてX線の減弱係数の線形性を利用して近似的に解く。【選択図】図1
Claim (excerpt):
被検査物に2以上の異なる方向から複数の強度の入射X線を照射するX線照射装置と、
該被検査物を透過した透過X線の強度と複数のX線透過画像から被検査物の厚さを検出するX線検出装置と、
前記複数の強度、透過X線の強度、および厚さから被検査物の原子番号と電子密度を算出し、これから被検査物の材質を識別する演算装置と、を備えたことを特徴とする高速材質識別検査装置。
IPC (1):
FI (1):
F-Term (19):
2G001AA01
, 2G001AA10
, 2G001BA11
, 2G001CA01
, 2G001DA01
, 2G001DA06
, 2G001DA08
, 2G001EA03
, 2G001GA06
, 2G001GA13
, 2G001JA09
, 2G001KA01
, 2G001KA11
, 2G001LA10
, 2G001NA03
, 2G001NA06
, 2G001NA10
, 2G001NA17
, 2G001PA11
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (2)
-
対象物の吸収率に依存した輝度制御を含むX線検査装置
Gazette classification:公表公報
Application number:特願2000-587586
Applicant:コーニンクレッカフィリップスエレクトロニクスエヌヴィ
-
X線分析装置及びその分析方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2004-108316
Applicant:株式会社東芝
Cited by examiner (5)
-
X線撮影装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2003-141294
Applicant:株式会社日立製作所
-
危険物探知装置および危険物探知方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-340274
Applicant:株式会社日立製作所, 株式会社日立エンジニアリングサービス
-
爆発物探知装置および方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2005-029935
Applicant:株式会社日立製作所
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