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J-GLOBAL ID：200903071217141028

対象物の吸収率に依存した輝度制御を含むX線検査装置

Inventor：
ヨーステン,ヨハネス ハー エム

About ヨーステン,ヨハネス ハー エム


Applicant, Patent owner：
コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ

About コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ


Agent (1)： 伊東 忠彦
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2000587586
Publication number (International publication number)：2002532837
Application date： Nov. 24, 1999
Publication date： Oct. 02, 2002
Summary：
【要約】X線検査装置は、輝度制御入力を有し対象物のX線画像を生成する手段と、上記制御入力へ輝度制御信号を出力するためにX線画像生成手段に結合された画像処理手段とを有する。X線画像生成手段には、X線データ出力が設けられ、画像処理手段には上記X線データ出力に結合されたX線データ入力が設けられ、画像処理手段は、吸収率の特性に依存して上記輝度制御信号を生成し、対象物の吸収率の特性を形成する計算手段として配置される。インテリジェントな測定フィールドの選択が、可視画像において再現される識別可能な対象物又はこの対象物の一部分の計算された吸収率の特性に基づいて今では可能である。画像品質は、輝度制御がよりインテリジェントに選択された測定フィールドに基づくため、改善される。
Claim (excerpt)：
輝度制御入力を有し対象物のX線画像を生成するX線画像生成手段と、 上記輝度制御入力へ輝度制御信号を出力するために上記X線画像生成手段に結合される画像処理手段とを有するX線検査装置であって、 上記X線画像生成手段にX線データ出力が設けられ、 上記画像処理手段に上記X線データ出力に結合されるX線データ入力が設けられ、 上記画像処理手段は、上記対象物の吸収率の特性を計算し上記吸収率の特性に依存して上記輝度制御信号を生成する対象物吸収率特性計算手段として配置されることを特徴とするX線検査装置。
IPC (9)：
H05G 1/64 ,  A61B 6/00 320 ,  G01N 23/04 ,  G01N 23/06 ,  G01T 1/00 ,  G01T 7/00 ,  G03B 42/02 ,  G06T 1/00 420 ,  H05G 1/44
FI (9)：
H05G 1/64 E ,  A61B 6/00 320 Z ,  G01N 23/04 ,  G01N 23/06 ,  G01T 1/00 B ,  G01T 7/00 C ,  G03B 42/02 A ,  G06T 1/00 420 A ,  H05G 1/44 A
F-Term (62)：
2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001GA01 ,  2G001HA09 ,  2G001HA13 ,  2G001HA20 ,  2G001KA01 ,  2G088EE01 ,  2G088EE30 ,  2G088FF02 ,  2G088GG20 ,  2G088JJ05 ,  2G088KK18 ,  2G088KK24 ,  2G088KK32 ,  2G088LL08 ,  2G088LL11 ,  2G088LL12 ,  2G088LL15 ,  2H013AB05 ,  4C092AA01 ,  4C092AB02 ,  4C092AB03 ,  4C092AB04 ,  4C092AC01 ,  4C092AC08 ,  4C092CC03 ,  4C092CC14 ,  4C092CD02 ,  4C092CD03 ,  4C092CD06 ,  4C092CD07 ,  4C092CF24 ,  4C092CF25 ,  4C092CF26 ,  4C092CF50 ,  4C092CJ17 ,  4C092CJ25 ,  4C092DD07 ,  4C092DD10 ,  4C093AA01 ,  4C093AA07 ,  4C093AA16 ,  4C093CA04 ,  4C093EA02 ,  4C093EB02 ,  4C093FA18 ,  4C093FA59 ,  4C093FC12 ,  4C093FC30 ,  4C093FD09 ,  5B047AA17 ,  5B047AB02 ,  5B047BB06 ,  5B047BB08 ,  5B047BC05 ,  5B047BC11 ,  5B047BC14 ,  5B047CA19 ,  5B047CB22 ,  5B047DC09
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (8)
  • X線透視撮影装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-080236   Applicant：株式会社日立メディコ
  • X線装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平10-112864   Applicant：株式会社日立メディコ
  • X線作像システム用の自動輝度制御
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-332614   Applicant：ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ
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