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J-GLOBAL ID:200903046637796238
眼科情報処理装置及び眼科検査装置
Inventor:
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,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
三澤 正義
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2008136827
Publication number (International publication number):2009034480
Application date: May. 26, 2008
Publication date: Feb. 19, 2009
Summary:
【課題】 視野機能の状態と網膜の形態との対応を把握可能にする技術を提供する。【解決手段】 眼科検査装置1は、眼底に光を投射し、その反射光を検出し、この検出結果に基づいて網膜の形態を表す3次元画像を形成する。刺激位置特定部233は、視野検査における複数の刺激点Piに対応する3次元画像中の複数の刺激位置を特定する。層厚計測部235は、3次元画像を解析して各刺激位置における網膜の層厚を求める。また、変位演算部234は、刺激位置の関連位置を特定する。層厚計測部235は、関連位置における網膜の層厚を求める。【選択図】 図6
Claim (excerpt):
網膜の形態を表す3次元画像を受け付ける受付手段と、
視野検査における複数の刺激点に対応する前記3次元画像中の複数の位置を特定する特定手段と、
前記3次元画像を解析して前記複数の位置のそれぞれにおける網膜の層厚を求める解析手段と、
を備えることを特徴とする眼科情報処理装置。
IPC (3):
A61B 3/12
, A61B 3/024
, A61B 3/14
FI (3):
A61B3/12 E
, A61B3/02 F
, A61B3/14 H
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (7)
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視野計
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-074732
Applicant:興和株式会社
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視野計
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-057577
Applicant:興和株式会社
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電子機器
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-365477
Applicant:興和株式会社
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視野計
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2003-340139
Applicant:株式会社ニデック
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スペクトル干渉に基づく光学・トモグラフィ-および光学表面プロファイル測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-082817
Applicant:カールツァイスイエナゲゼルシャフトミットベシュレンクテルハフツング
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光断層画像取得装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-334096
Applicant:富士写真フイルム株式会社
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眼のコヒーレンス・トポグラフィック・レイトレーシング測定のための装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-147222
Applicant:カールツァイスイエナゲゼルシャフトミットベシュレンクテルハフツング
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Cited by examiner (6)
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偏光プローブを使用する眼球検査機器
Gazette classification:公表公報
Application number:特願2000-551661
Applicant:レーザー・ディアグノスティック・テクノロジーズ・インコーポレイテッド
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視野計
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2004-163394
Applicant:株式会社ニデック
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視野計
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2003-340139
Applicant:株式会社ニデック
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Article cited by the Patent:
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