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J-GLOBAL ID：200903046964600681

三次元形状計測装置及び三次元形状計測方法

Inventor：
中辻 敦忠

About 中辻 敦忠

, 
小林 学

About 小林 学


Applicant, Patent owner：
NECエンジニアリング株式会社

About NECエンジニアリング株式会社


Agent (1)： 中井 潤
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2007025380
Publication number (International publication number)：2008190990
Application date： Feb. 05, 2007
Publication date： Aug. 21, 2008
Summary：
【課題】物体の三次元形状を短時間で計測する。【解決手段】物体2に正弦波状の光パターンを投射するとともに、光パターンが投射された物体2を撮影し、その撮影画像に基づいて物体2の三次元形状を計測する三次元形状計測装置であって、短波長の光パターン20及び長波長の光パターン30の各々を物体2に投射するプロジェクタ3と、短波長及び長波長の光パターン20、30が投射された物体2を撮影するカメラ4と、カメラ4で撮影された画像に基づいて短波長及び長波長の光パターン20、30の相対位相を算出する位相算出部14と、予め作成され、距離と対応付けて短波長及び長波長の光パターン20、30の相対位相が記録されたテーブル13aと、位相算出部14によって算出された短波長及び長波長の光パターン20、30の相対位相を用いて、テーブル13aを参照し、物体2までの距離を求める距離導出部15とを備えることを特徴とする。【選択図】図2
Claim (excerpt)：
物体に正弦波状の光パターンを投射するとともに、前記光パターンが投射された物体を撮影し、その撮影画像に基づいて前記物体の三次元形状を計測する三次元形状計測装置であって、 第1波長を有する第1光パターン及び前記第1波長より長い第2波長を有する第2光パターンの各々を前記物体に投射する投射手段と、 前記第1及び第2光パターンが投射された物体を撮影する撮影手段と、 前記撮影手段で撮影された画像に基づいて前記第1及び第2光パターンの相対位相を算出する位相算出手段と、 予め作成され、距離と対応付けて前記第1及び第2光パターンの相対位相が記録されたテーブルと、 前記位相算出手段によって算出された前記第1及び第2光パターンの相対位相を用いて前記テーブルを参照し、前記物体までの距離を求める距離導出手段とを備えることを特徴とする三次元形状計測装置。
IPC (1)：
G01B 11/25
FI (1)：
G01B11/25 H
F-Term (12)：
2F065AA06 ,  2F065AA53 ,  2F065DD06 ,  2F065FF02 ,  2F065FF04 ,  2F065FF07 ,  2F065FF09 ,  2F065GG23 ,  2F065HH06 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065QQ31
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (8)
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Cited by examiner (6)
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